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| 产地类别 | 国产 | 价格区间 | 1万-5万 |
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产品简介
详细介绍
ECA-NY01 作物农艺形态测量仪
本仪器广泛用于作物的育种、栽培等研究工作，可以大大减少人工工作量中出现的漏记、多记、错记、误差太大等现象，能够测量作物生*的株高、穗位、茎粗、单叶面积、总叶面积、果实大小等，在测量过程中按照仪器的提示操作，自动记录。可以完善的记录每个样品在一个生*内的生长状况，测量数值直接保存到SD卡中，并有专业软件形成作物农艺形态调查表。
仪器参数：
- 测量范围：0-3000mm
- 精度：1mm
- 分辨率：0.1mm
- 储存方式：SD卡
- 测量方式：有卡测量和无卡测量（需要读取IC卡）
- 主要测量参数：可以测量作物的株高、株直径、穗位、穗长、叶片长、叶片宽、叶片面积等；
- 测量结束后可自动储存测量的日期、时间和相对应的样品号