英国进口SunScan植物冠层分析仪系统

通过测量作物冠层PAR值提供了关于影响田间作物生长的限制因素的有价值的信息，如叶面积指数（LAI）。SunScan探测器也可被用来描绘作物冠层PAR的分布图 。

原理：

根据冠层吸收的Beer法则、Wood的SunScan冠层分析方程以及Campbell的椭圆叶面角度分布方程 (Campbell’s Ellipsoidal LAD equations)，使用光量子传感器来测量、计算和分析植物冠层截获和穿透的光合有效辐射及叶面积指数。

软件计算：

Sunscan系统主要是通过测量冠层截获的光合有效辐射量(PAR)来计算叶面积指数（LAI），软件中涉及到的参数有：

直射和散射入射辐射光、叶面积指数、叶片透光率、叶倾角、天顶角、穿透辐射。在这几个参数中，天顶角是根据当地的时间、经度和纬度来计算的，叶片透光率和叶倾角是需要用户自己估计的，其他的参数都是直接测量得出的。

组成：

植物冠层分析仪(专业版/无线版),包含 SS1 Sunscan 探头,SDA2 SunData 软件,RPDA2掌上数据管理器和防护壳,BF5 日照传感器,软件和手册光盘,BF5-SS1-05 5 米电缆,EXT/8W-055 米延长电缆,SS-TD 可伸缩三角支架和 SCC1 便携箱.（无线版本带有无线发射器，不需要线缆连接）

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