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阻抗率計自動測繪系統 详细摘要: 阻抗率計自動測繪系統 MCP-S330特色:精確測量表面電阻率[Ω/ sq‧]和體積電阻率[Ω/ cm‧]不受樣本形狀的影響。導電膜,金屬,金屬薄膜等的厚度和成...
产品型号:MCP-S330 所在地:武汉市 更新时间:2024-05-30 参考价: 面议 在线留言
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详细摘要: 阻抗率計自動測繪系統 MCP-S330特色:精確測量表面電阻率[Ω/ sq‧]和體積電阻率[Ω/ cm‧]不受樣本形狀的影響。導電膜,金屬,金屬薄膜等的厚度和成...
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