详细摘要： 德国CS INSTRUMENTS是一款集成多种功能的创新测量设备。该设备门为现场应用而设计，配有集成式可充电电池以及经过验证和测试的传输单元，并配有防震且小巧的...

详细摘要： SGA91 - CO烟气分析仪烟气分析仪方便直观的零校准方式 背景光便于现场读数操作简单,即时显示所测气体浓度方便直观的零校准方式背光便于现场读数型寿命为3年的...

详细摘要： 高新超高分辨率场发射扫描电子显微镜SU9000也能用来改变物体表面的疏水性，有助于部件和表面的化学改性，经过氧化和硬化处理的探针有利于在扫描过程中保持探针的几何...

详细摘要： 日立紫外/臭氧清洗设备ZONETEM II无油真空系统（干泵3.8L/min）3min内达到所需真空度清洗系统:2种清洗模式真空清洗和真空储存清洗时间范围为1m...

详细摘要： 日立紫外清洗设备真空系统:无油真空系统（隔膜泵9L/min）3min内达到所需真空度真空范围为100-500torr(100步)清洗仓:样品尺寸: 100mm ...

详细摘要： 与机械抛光不同，离子研磨系统处理样品而不会变形或施加机械应力。因此，用于预处理样品的离子铣削系统的应用范围不断扩大，不仅包括扫描电子显微镜（SEM），还包括原子...

详细摘要： 日立离子研磨装置I混合模式：两种研磨配置断面加工：将样品断面研磨光滑，便于表面高分辨观察平面研磨：不同角度有选择地，大面积，均匀地研磨5 mm的平面，以突显样品...

详细摘要： 日立高新扫描电子显微镜主机与供电单元可分离，安装非常灵活。 近年来，扫描电镜观察表面精细结构及元素分析的需求日趋增加，而越来越多的用户希望能在生产线、品保检验线...

详细摘要： 日立高新场发射扫描电子显微镜　　•利用电子枪轰击后的高亮度稳定期，高分辨观察和分析兼顾　　•大幅提高分辨率(1.1nm/1kV、0.8nm/15kV)　　•减轻...

详细摘要： 紧凑型毛细管电泳测序仪日立台式扫描电镜标配低真空模式，简化样品前处理 采用低真空，不导电样品也无需喷金，可以直接观察，大大提高了工作效率。全自动聚焦和亮度对比度...

详细摘要： 日立白光干涉显微镜搭配了符合ISO 25178标准的分析工具 “ISO 25178参数对比工具"。在ISO 25178标准中规定了评估表面性状的32个项目的参数...

详细摘要： 日立台式扫描电镜标配低真空模式，简化样品前处理 采用低真空，不导电样品也无需喷金，可以直接观察，大大提高了工作效率。全自动聚焦和亮度对比度调整，只需按几个按钮就...

详细摘要： 日立扫描探针显微镜控制器此系列开发出一种的处理方法，可预测并调整悬臂的振动振幅、动作频率等主要参数。其通过对样品表面的形状、扫描区域、使用的悬臂及扫描仪等的综合...

详细摘要： 多功能扫描探针显微镜系统AFM100 Plus/AFM100系统是以在研发、生产、教育等各种场合普及AFM应用为目的，并追求操作性、可靠性及高效率观察的通用型高...

详细摘要： 这次推出的台式紫外可见近红外分光光度计UH5700，融合了日立精密的光栅技术，使用了新研发的蚀刻衍射光栅，既可测定液体样品的吸收光谱，也可测定固体样品的反射和透...

详细摘要： 日立荧光分布成像系统1. 可以测定样品的光谱数据（反射光、荧光特性）在不同光源条件下（白光和单色光）拍摄样品图像，（区域：Φ20mm、空间分辨率：0.1...

详细摘要： 日立火焰原子吸收分光光度计190nm~900nm全谱采用塞曼背景校正技术，可扣除所有背景干扰（包含结构背景）全时双光束技术，样品信号和参比信号同时检测，可获得稳...

详细摘要： 日立荧光分光光度计F-7100新设“高阶光过滤"功能，可在多变量分析三维荧光光谱数据时，将不含二阶光区域的数据至 Excel 表。与不输出比激发光波长要短的波长...

详细摘要： 日立双光束紫外可见分光光度计特点:(1)性能---可获得高精度的数据：光源使用长寿命闪烁氙灯光源品质期长达7年*1，降低运行成本双光束光学系统与单光束光学系统相...

详细摘要： 日立荧光分光光度计三维时间扫描模式追踪监控化学反应过程显示出来。增大检测时间范围，能够测定持续较长时间发光的磷光。可以使用浓度范围高达6个数量级的数据生成校正曲...