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薄膜纳米厚度测量仪

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具体成交价以合同协议为准
  • 型号 F54
  • 品牌 其他品牌
  • 厂商性质 经销商
  • 所在地 苏州市
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更新时间:2023-02-23 09:57:00浏览次数:1596

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产品简介

产地类别 国产 价格区间 面议
应用领域 环保,化工,电子/电池
薄膜纳米厚度测量仪自动化薄膜厚度分布图案系统依靠F54良好的光谱测量系统,可以很简单快速地获得大直径450毫米的样品薄膜的厚度分布图。采用r-θ极坐标移动平台,可以非常快速的定位所需测试的点并测试厚度,测试非常快速,大约每秒能测试两点。系统中预设了许多极坐标形、方形和线性的图形模式,也可以编辑自己需要的测试点。只需掌握基本电脑技术便可在几分钟内建立自己需要的图形模式。可测样品膜层基本上所有光滑的

详细介绍

  薄膜纳米厚度测量仪自动化薄膜厚度分布图案系统依靠F54良好的光谱测量系统,可以很简单快速地获得大直径450毫米的样品薄膜的厚度分布图。采用r-θ极坐标移动平台,可以非常快速的定位所需测试的点并测试厚度,测试非常快速,大约每秒能测试两点。系统中预设了许多极坐标形、方形和线性的图形模式,也可以编辑自己需要的测试点。只需掌握基本电脑技术便可在几分钟内建立自己需要的图形模式。

  可测样品膜层基本上所有光滑的。非金属的薄膜都可以测量。可测样品包括:

  薄膜纳米厚度测量仪相关应用

  半导体制造•光刻胶•氧化物/氮化物/SOI•晶圆研磨减薄/封装

  液晶显示器•盒厚•聚酰亚胺•ITO

  光学镀膜•硬涂层•抗反射涂层•滤光片

  微电子•光刻胶•硅膜•氧化铝/氧化锌薄膜滤镜

氧化硅

氮化硅

类金刚石DLC

光刻胶

聚合物

聚亚酰胺

多晶硅

非晶硅

F54-5.jpg


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