X射线检测系统

X射线检测系统的检测范围为直径600mm，高度900mm，大样本重量为60公斤，XY轴运动为600mm运动距离，15m/min，Z轴运动为900mm，15m/min，转盘为360度，每分钟8转（400mm浅盘），倾斜度为正负30度，探测器可选8‘’或16‘’，图像增强器，线阵探测器，射线源和探测器的距离为1米，铅房大约尺寸为2590*2330*2339mm，泄漏量小于等于0.1mR/hr（距离铅房外部50mm处），符合US FDA 21 CFR 1020.40，CE/UL/CSA，IRR99，MAI及ASTM。系统组件：VJT C160-160KV 射线源，VJT C225-225KV射线源，VJT C225 MF-225KV微焦射线源，VJT C225-225KV射线源带CT功能。控制系统包含Dell机架型电脑，集成的用户界面，键盘、鼠标，1或2个监视器，单风扇，监控摄像机。配备*的三维计算机断层扫描软件，支持多种检测模式，轴向CT或平面CT层析，自动测定旋转中心，提供环形伪影消除方法，自动测定三维像素的大小和放大，二维数据可视化，灰度值曲线，在线和离线重建，重建的自动分配。