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| 产地类别 | 进口 | 应用领域 | 电子/电池 |
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测量频率DC，4 Hz〜8 MHz的LCR测试仪
测量频率DC，4Hz~8MHz 测量时间：最快1ms 基本精度：±0.05% rdg 1mΩ以上的精度保证，可测量低阻 可内部发生DC偏压测量
产品简介
详细介绍
日置LCR测试仪IM3536
测量频率DC，4 Hz〜8 MHz的LCR测试仪
测量频率DC，4Hz~8MHz 测量时间：最快1ms 基本精度：±0.05% rdg 1mΩ以上的精度保证，可测量低阻 可内部发生DC偏压测量
概要
测量频率DC，4Hz~8MHz
测量时间：最快1ms
基本精度：±0.05% rdg
1mΩ以上的精度保证范围，也可安心进行低阻测量
可内部发生DC偏压测量
从研发到生产线活跃在各种领域中
基本参数
测量模式
LCR（单一条件下测量），连续测量（保存条件下连续测量）
测量参数
Z, Y, θ, X, G, B, Q, Rdc（直流电阻），Rs (ESR), Rp, Ls, Lp, Cs, Cp, D (tanδ), σ, ε
测量量程
100 mΩ~100 MΩ, 10档量程（所有参数由Z规定）
显示范围
Z: 0.00 m~9.99999 GΩ, Y: 0.000 n~9.99999 GS, θ: ± (0.000°~999.999°), Q: ± (0.00~9999.99), Rdc: ± (0.00 m~9.99999 GΩ), D: ± (0.00000~9.99999), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %)等
基本精度
Z: 0.05 % rdg. θ: 0.03°（代表值，精度保证范围：1mΩ~200MΩ）
测量频率：4 Hz~8 MHz (10 mHz~100 Hz步进)
测量信号电平
[V模式, CV模式]的[通常模式]
4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~5 V (最大50 mA)
1.0001 MHz~8 MHz: 10 mV~1 V (最大10 mA)
[V模式, CV模式]的[低Z高精度模式]
4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~1 V (最大100 mA)
[CC模式]的[通常模式]
4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~50 mA (最大5 V)
1.0001 MHz~8 MHz: 10 μA~10 mA (最大1 V)
[CC模式]的[低Z高精度模式]
4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~100 mA (最大1 V)
[直流电阻测量]: 1 V固定
DC偏压
发生范围：DC电压0~2.50 V (低Z高精度模式时0 ~1 V)
输出阻抗
通常模式：100 Ω, 低Z高精度模式: 10 Ω
显示
彩色TFT5.7英寸，触摸屏
功能
比较器、BIN测量（2个项目10种分类），触发功能、开路·短路补偿、接触检查、面板保存·读取功能、存储功能
接口
EXT I/O (处理器), /USB/U盘/LAN/GP-IB/RS-232C, BCD输出
电源
AC 100~240 V, 50/60 Hz, 50 VA max
体积及重量：330W × 119H × 230D mm, 4.2 kg
附件：电源线×1,使用说明书×1,CD-R（通讯说明书，LCR应用光盘）×1
日置LCR测试仪IM3536