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详细介绍
►产品介绍
TRIFT-V nanoTOF II(三次聚集飞行时间)二次离子质谱仪是超灵敏的表面分析技术，可检测表面分子成分和分布，元素及其同位素。所有元素和同位素，包括氢都可以用飞行时间二次离子质谱分析。由初级脉冲离子束轰击样品表面所产生的二次离子，经飞行时间分析器分析二次离子的荷质比，从而得知样品表面信息。
PHI nanoTOF IITM飞行时间质谱仪是第五代SIMS仪器，该仪器具有*的飞行时间（TOF）分析仪，它拥有市场上TOF-SIMS仪器中大的角度和能量接收范围，它使用了具有优良离子传输能力的三级聚焦半球形静电分析器，实现了高空间分辨率和质量分辨率。PHI nanoTOF IITM还具有很高的成像能力，可以表征形貌复杂的样品而没有阴影效应。
►飞行时间质谱仪-特点：
1、立体收集角度大和深景深
2、同时实现高空间及高能量分辨模式
3、视野范围小可至5微米
4、低背景和亚稳抑制
5、多种离子枪选配实现高精度深度剖析
6、FIB-TOF三维深度分布成像
7、串联质谱MS/MS （有机高分子材料分析*附件）
8、SmartSoftTM-TOF配合WinCadence软件易于操作
9、多样化的样品托
►nanoTOF II仪器规格：
Bi 作为一次离子源时：
1、低质量数质量分辨率（m/Δm）：硅（28Si+和28SiH+）在12000以上
2、高质量数质量分辨率（m/Δm）：m/z > 200，在 16,000以上
3、有机材料的质量分辨率（m/Δm）：PET（104 amu）在12000以上
4、小离子束直径：70纳米（高空间分辨率模式）、0.5μm（高质量分辨率模式）
►nanoTOF II选配
串联质谱MS/MS、氩气团簇离子枪、C60离子枪、铯离子枪、氩／氧离子溅射枪、样品冷却/加热系统、样品高温加热系统、真空转移装置、氧喷射系统、Zalar高速旋转系统、聚焦离子束FIB（Focused Ion Beam）、前处理室、各种样品托、离线数据处理系统、Static SIMS Library等。
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