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相位偏折测量系统 参考价：面议
相位偏折测量系统相位偏折术或条纹反射法，是一种非接触式、低成本、高鲁棒性且高精度的面形测量技术,绝对检测精度可达10-20nm RMS,可以用于平面、球面、非球...
光谱透过率测量系统 参考价：面议
光谱透过率测量系统:AUT GPS-200推出的⼀套光谱透过率测试系统，通过光谱仪与均匀光源组成透过率测量系统，帮助客户对光学玻璃、滤光⽚、膜层、显示屏（OLE...
光学视角检测仪—显示测量 参考价：面议
光学视角检测仪—显示测量，ELDIM制造基于傅里叶光学的光学视角检测仪已经超过25年了。基于*的光学设计，可以控制系统的角孔径与测量光斑大小相独立，可以实现非常...
Mprobe 20 薄膜测量系统 （单点测量） 参考价：面议
Mprobe 20 薄膜测量系统 （单点测量）是一款桌面式单点薄膜厚度测量系统，只需点击鼠标薄膜厚度和折射率测量，测量厚度范围1nm-1mm.
光腔衰荡光谱测量系统 参考价：面议
光腔衰荡光谱方法（CRDS， Cavity Ring-Down Spectroscopy）是一种基于高精细度谐振腔的高灵敏度探测技术，主要用于精确测量各种反射率...
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