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深紫外斯托克斯偏振态测量仪 参考价：面议
深紫外斯托克斯偏振态测量仪：在紫外波长（180nm-200nm）范围内基于双PEM（光弹调制器）的偏振测量系统为量化光的斯托克斯参数提供精度与灵敏度。该科研级高...
光纤偏振态测量仪 参考价：面议
光纤偏振态测量仪：SK010PA是一款通用型偏振分析仪，该偏振分析仪通常用于对自由空间光路和保偏光纤光路进行偏振分析与测试。可实时对四个斯托克斯参数进行测量以获...
微小区域薄膜厚度测量仪 参考价：面议
微小区域薄膜厚度测量仪-MPROBE 40 MSP，MProbe 40 测量薄膜厚度和折射率单击鼠标在小地方。显微分光光度计 (MSP) 集成在系统中同时结合显...
原位薄膜厚度测量仪 参考价：面议
原位薄膜厚度测量仪-MPROBE 50 INSITU-昊量用于测量薄膜厚度和 n&k（光学常数）的实时光学测量仪。该系统可以在高环境光下工作，因为它使用门控数据...
小尺寸宽带偏振态测量仪 参考价：面议
PolSNAP是一款紧凑的偏振测量仪，来自Hinds Instruments;公 司，数据采集速率为每秒2000个样本，从而得以每秒快速确 定4个Stokes矢...
通讯波段偏振消光比测量仪 参考价：面议
该消光比测试仪PEM-330采用技术制造，可实现1260～1630nm全波段测量。只需更换测试光源，无需购买多台消光比测试仪，即可实现不同波段器件的精确测量，一...
超宽带偏振态测量仪 参考价：面议
超宽带偏振态测量仪结合了Meadowlark Optics公司*的液晶可变相位延迟器技术和偏振技术，具有超宽带、高精度及无运动部件等特点。
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