X光机半值层（ＨＶＬ）测量铝片（X射线机评价配套模体）_完整X射线质控仪配套模体-上海畅毓实业有限公司

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更新时间：2017-08-10 13:42:25浏览次数：1024

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产品简介

X光机半值层（ＨＶＬ）测量铝片符合《WS76-2017医用常规X射线诊断设备质量控制检测规范》要求

详细介绍

X光机半值层（ＨＶＬ）测量铝片：

1）纯度：99.99%

2）厚度：0.5mm×10片,01mm×6片

3）厚度误差：±0.01mm

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