详细摘要： FigSpec FS-1X系列高光谱相机包含可见光（400-700nm）、近红外（400-1000nm）和短波近红外（900-1700nm）3种光谱区域，广泛应...

详细摘要： FigSpec FS-2X系列高光谱相机包含可见光（400-700nm）、近红外（400-1000nm）和短波近红外（900-1700nm）3种光谱区域，广泛应...

详细摘要： NEOSCAN N60 microCT显微CT采用锥形X 线束（Cone Beam）, 获得真正各向同性的容积图像，并重构3D图像，提高空间分辨率和X射线利用率...

详细摘要： NEOSCAN N70 microCT显微CT采用锥形X 线束（Cone Beam）, 获得真正各向同性的容积图像，并重构3D图像，提高空间分辨率和X射线利用率...

详细摘要： NEOSCAN N80 microCT显微CT采用锥形X 线束（Cone Beam）, 获得真正各向同性的容积图像，并重构3D图像，提高空间分辨率和X射线利用率...

详细摘要： Neoscan N80 microCT微型计算机断层扫描系统采用锥形X 线束（Cone Beam）, 获得真正各向同性的容积图像，并重构3D图像，提高空间分辨率...

详细摘要： Neoscan N70 microCT微型计算机断层扫描系统采用锥形X 线束（Cone Beam）, 获得真正各向同性的容积图像，并重构3D图像，提高空间分辨率...

详细摘要： Neoscan N60 microCT微型计算机断层扫描系统采用锥形X 线束（Cone Beam）, 获得真正各向同性的容积图像，并重构3D图像，提高空间分辨率...

详细摘要： 奥林巴斯Olympus半导体显微镜MX63/63L系统支持检测尺寸达300毫米的晶圆、平板显示器、印刷电路板以及其他样品的质量。这些符合人体工学设计的人性化系统...

详细摘要： NanoSystem NSM系列非接触式3D表面测量系统用于PCB基板表面形貌的测量。 基板上的Via Hole，Pad形状，pattern形貌和表面形貌等11...

详细摘要： NanoSystem NV-1800 3D轮廓仪属于紧凑式机型，但仍具有很高的测试性能。简单的操作性和良好的重复性使得它在研发和分析不良产品方面发挥着重要作用。

详细摘要： NanoSystem NVM-6000P非接触式3D表面测量系统用于PCB基板表面形貌的测量。 基板上的Via Hole，Pad形状，pattern形貌和表面形...

详细摘要： OLYMPUS MX50半导体检测显微镜专为6及8寸晶圆及大面板LCD/TFT产业开发设计。无远限度光学系统，并提供高达26.5mm的超宽视野。对光路中的耀斑有...

详细摘要： NanoSystem CS-2000气缸内壁表面形貌仪结合了无损分析性能, 操作便利。除了评估ISO粗糙度值, 采用白光干涉测量技术之外, 这款紧凑型系统还可以...

详细摘要： Nanosystem NV-1000白光干涉仪是利用白光干涉特性来进行表面形貌的测量，它结合了典型的WSI非常高的垂直分辨率和一个非常大的面积高达21.7毫米x...

详细摘要： NanoSystem CS-2000气缸内壁光学测量系统结合了无损分析性能, 操作便利。除了评估ISO粗糙度值, 采用白光干涉测量技术之外, 这款紧凑型系统还可...

详细摘要： Nanosystem NVF-2700 非接触式3D轮廓仪，通过非接触式的方法对0.1nm-270nm的3维表面形貌进行高进度和高速测量。利用物镜转台可方便的进...

详细摘要： NanoSystem NV-3200非接触式3D光学轮廓仪为LCD、IC Package、Substrate、Build-up PCB、MEMS，Enginee...

详细摘要： Nanosystem NV-2400非接触式3D轮廓仪通过非接触式的方法对0.1nm-270nm的3维表面形貌进行高进度和高速测量。利用物镜转台可方便的进行放大...

详细摘要： Nanosystem NV-2700 非接触式3D轮廓仪，通过非接触式的方法对0.1nm-270nm的3维表面形貌进行高进度和高速测量。利用物镜转台可方便的进行...