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红外金相显微镜芯片隐裂瑕疵红外无损检测

参   考   价: 100000

订  货  量: ≥1 件

具体成交价以合同协议为准

产品型号全类型

品       牌Nikon/日本尼康

厂商性质经销商

所  在  地苏州市

更新时间:2023-12-01 15:04:57浏览次数:574次

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产地类别 进口 价格区间 10万-30万
应用领域 电子 红外 全波段
近红外检测应用实例
Vcsel芯片隐裂(cracks)、InGaAs瑕疵红外无损检测
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红外透射Wafer正反面定位标记重合误差无损测量
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  n晶圆观察完毕后,依次进行如下操作:
 
  1. 将物镜旋转至最小倍率(5X)。
 
  2. 将晶圆从载物台下取下。
 
  3. 将载物台调整至中心位置。
 
  4. 关闭显微镜光源。
 
  5. 关闭显微镜电源。
 
  n另外,使用显微镜时需注意如下几点:
 
  1. 物镜切换时,依次从5X调整至10X、20X、50X,最后至100X,禁止从5X直接切换为100X。
 
  2. 显微镜使用完成,一定要关闭显微镜光源。
 
  3. 其他未介绍的显微镜按钮开关是设备调试时使用,正常情况下禁止使用。
 
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