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产品简介
详细介绍
美国磁通I 磁粉探伤试片
I试片
定量品质试片
I是带有人工缺陷的标准磁粉检测试片。用于：将激磁次数降至zui少，以提高生产效率；确定磁场方向和相对的磁场强度；平衡多向磁场。
标准I试片
缺陷成基园和十字交叉条形，用于纵向和轴向磁场。
型号：KSC-430 标准I试片，缺陷深度为试片厚度的30%，试片厚度为0.004英寸。
美国磁通I 磁粉探伤试片，，
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