笃挚仪器(上海)有限公司

主营产品: 泰勒霍普森代理,Taylor Hobson粗糙度仪,德国马尔粗糙度仪,Mahr,三丰粗糙度仪代理,霍梅尔Hommel

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英国泰勒霍普森 Taylor Hobson

德国马尔 Mahr

德国艾达米克-霍梅尔Hommel

德国菲希尔Fischer测厚仪

德国Elektrophysik(EPK)

德国尼克斯QNix测厚仪

德国BYK光泽仪

日本三丰Mitutoyo

日本柯尼卡美能达

美国狄夫斯高Defelsko

美国GE通用电气

美国zygo干涉仪

美国API激光干涉仪

美国OGP影像测量仪

美国康宁CORNING TROPEL

美国环球Universal

美国Mark-10测力计

斯派克SPECTRO光谱仪

森萨帕特sensopart传感器

瑞士TRIMOS

瑞士TESA

瑞士Wyler水平仪

瑞士sylvac

瑞士博势Proceq硬度计

奥地利EMCOTEST硬度计

表面处理层无损检测系统

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参考价 面议
具体成交价以合同协议为准
  • 型号
  • 品牌 Qnix/德国尼克斯
  • 厂商性质 代理商
  • 所在地 上海市

更新时间:2020-02-20 09:52:17浏览次数:1173

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【简单介绍】
价格区间 面议 应用领域 电子/电池,道路/轨道/船舶,钢铁/金属,航空航天,汽车及零部件
德国尼克斯qnix4500上海代理推荐
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»我们的用户友好型仪表的成功证明了我们的“德国制造"品牌的质量
»根据我们传统的价值观,我们不断开发市场的创新解决方案,例如QNix®8500 sat无线电探测探头。
【详细说明】

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作为的手持式涂层测厚仪技术的公司之一,Nix自动化博士致力于提供优质的产品和服务
»我们的用户友好型仪表的成功证明了我们的“德国制造”品牌的质量
»根据我们传统的价值观,我们不断开发市场的创新解决方案,例如QNix®8500 sat无线电探测探头。QNix®4500/4200是标准应用中销售量zui多的两种。该规格的坚固紧凑的设计已经开发,用于简单和快速的涂层厚度测量,适用于所有涂料和汽车应用。

德国尼克斯qnix4500上海代理推荐 QNix®4200(含 QNix®4200、QNix®4200/5、QNix®4200P、QNix®4200P5)可测量磁性金属表面非磁性涂镀层厚度。(Fe)

QNix®4500(含 QNix®4500、QNix®4500/5、QNix®4500P、QNix®4500P5 可测量磁性金属表面非磁性涂镀层厚度及非磁性金属表面非导电涂层厚度。(Fe/NFe双用)标准:符合 ISO 2178,2360,2808 及 ASTM B 499,D709 标准。

规格版本:
»QNix®4500:用于钢/铁和有色金属(自动底材识别)(Fe / NFe)上的涂层厚度测量
»QNix®4200:仅用于钢和铁测量的相同设计规格(Fe。

产品亮点:
简单的操作只需一个按钮
»在整个测量范围内具有高精度
»测量速度高
»具有背光的图形显示,实现*的可读性

德国尼克斯 QNIX 涂层测厚仪特点:
零位稳定:所有涂层测厚仪测量前都要求校准零位,可以在随仪器的校零板或未涂覆的工件上校零。仪器零位的稳定是保证测量准确的前提。一台好的测厚仪校零后,可以长时间保持零位不漂移,确保准确测量。
●​无需校准:多数涂层测厚仪除了校零外,还需要用标准片进行调校。测量某一范围厚度,要用某一范围的标准片调校。主要是不能满足全范围内的线性精度。不仅操作烦琐,且也会因标准片表面粗糙失效,增大系统误差。尼克斯涂层测厚仪可以满足全量程范围内数值准确。
●​温度补偿:涂覆层厚度的测量受温度影响非常大。同一工件在不同温度下测量会得出很大的误差。所以好的测厚仪应该具备理想的温度补偿技术,以保证不同温度下的测量精度。
●​红宝石探头:探头接触点的耐磨性直接影响测量的精度。普通金属接触探头,其表面磨损后会带来很大的误差。
●​*的直流采样技术:使得测量重复性较传统交流技术有*的*和提高。
●​单探头量程大:0-5mm

规格参数:
型号 一体/分体 量程 基体
QNix®4200 一体 Fe:0-3000μm Fe
QNix®4200P 分体 Fe:0-3000μm Fe
QNix®4200/5 一体 Fe:0-5000μm Fe
QNix®4200P5 分体 Fe:0-5000μm Fe
QNix®4500 一体 Fe/NFe:0-3000μm Fe/NFe 双用
QNix®4500P 分体 Fe/NFe:0-3000μm Fe/NFe 双用
QNix®4500/5 一体 Fe:0-5000μm Fe/NFe 双用
NFe:0-3000μm
QNix®4500P5 分体 Fe:0-5000μm Fe/NFe 双用
NFe:0-3000μm



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