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笃挚仪器（上海）有限公司
主营产品： 泰勒霍普森代理，Taylor Hobson粗糙度仪，德国马尔粗糙度仪，Mahr，三丰粗糙度仪代理，霍梅尔Hommel |
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主营产品： 泰勒霍普森代理，Taylor Hobson粗糙度仪，德国马尔粗糙度仪，Mahr，三丰粗糙度仪代理，霍梅尔Hommel |
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fischerscope x-ray xul xym上海 简单介绍：fischerscope x-ray xul xym上海 FISCHERSCOPE®-X-RAY XUL是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光光谱仪，它结构紧凑，小巧耐用。它们十分适用于无损测量镀层厚度和成分分析。比例接收器能实现高计数率，这样就可以进行高精度测量。 产品型号： 所在地：上海市 更新时间：2024-03-20 |
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德国菲尔希x-ray膜厚测试仪总代理 简单介绍：德国菲尔希x-ray膜厚测试仪总代理 FISCHER-SCOPE X-RAY产品线还具备近30年的经验，并且仍在不断的发展中。确定细小结构和大型工件上的单一或复合镀层、RoHS要求的痕量分析、测试珠宝和黄金或在连续生产线上在线测量， 产品型号： 所在地：上海市 更新时间：2023-07-12 |
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x射线镀层测厚仪_xdv-µ-pcb 简单介绍：x射线镀层测厚仪_xdv-µ-pcb FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ测量系统拥有先进的多毛细孔X射线聚焦装置，既能有效地缩小测量点的面积，又能大幅加强射线的强度。仪器配备了大面积硅漂移探测器，特别适用于在小工件上测量非常薄镀层的厚度或者进行痕量分析。 产品型号： 所在地：上海市 更新时间：2021-05-13 |
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X-RAY XUL/XULM电镀或电子元件镀层测厚仪 简单介绍：X-RAY XUL/XULM电镀或电子元件镀层测厚仪 在电镀或电子元件生产过程中需要快速且准确地测定镀层厚度时，XUL® 系列测量仪器是您的*选解决方案。X 射线荧光仪器可自下而上进行测量，能够在测量台上对样品进行轻松定位。该系列的所有 X 射线仪器均配备相同的探测器。您可以根据自己的测量需求选择不同的准直器、滤波器以及 X 射线管。 产品型号： 所在地：上海市 更新时间：2021-04-16 |
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菲希尔x射线镀层测厚仪fischer xdv-sdd 简单介绍：菲希尔x射线镀层测厚仪fischer xdv-sdd FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD型仪器配备了感应区域大而分辨率良好的硅漂移接收器，这样在使用大准直器的情况下，可以达到很高的计数率，从而实现良好的重复精度和很低的检测下限。XDV-SDD非常适合痕量分析中非常薄镀层的测量。 产品型号： 所在地：上海市 更新时间：2021-02-23 |
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Fischer X-RAY XUV773 X射线荧光镀层测厚仪 简单介绍：Fischer X-RAY XUV773 X射线荧光镀层测厚仪 FISCHERSCOPE X-RAY XUV仪器配有一个可抽真空的大型测量箱。其所装备的大面积硅漂移探测器能够探测低至1 keV的荧光辐射能量，从而能够有效地测量元素Na、Mg以及元素Zn、Cu、Ni的L辐射。 产品型号： 所在地：上海市 更新时间：2020-12-28 |
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德国菲希尔fischer xdl-230镀层膜厚测试仪 简单介绍：德国菲希尔fischer xdl-230镀层膜厚测试仪 FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230是一款用户界面友好的台式测量仪器。手动操作的X-Y工作台，马达驱动的Z轴系统。高分辨率的彩色视频摄像头具备强大的放大功能，可以准确定位测量位置。通过视频窗口，还可以实时观察测量过程和进度。测量箱底部的开槽是专为面积大而形状扁平的样品所设计 产品型号： 所在地：上海市 更新时间：2020-11-06 |
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XULM 240德国fischer膜厚仪 X射线荧光测厚仪 简单介绍：德国fischer膜厚仪 X射线荧光测厚仪 XULM特别适合测量细小的部件如连接器，触点或线，也可以测量印刷线路板上的Au，Ni和Cu镀层厚度。即使80nm的很薄的金镀层也可以用测量点为Ø0.25mm的准直器测量，20秒的重复精度可达2.5nm。 产品型号：XULM 240 所在地：上海市 更新时间：2020-09-17 |
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Fischer XDAL237 X射线荧光测厚仪 简单介绍：Fischer XDAL237 X射线荧光测厚仪 FISCHERSCOPE X-RAY XDAL型仪器的测量空间宽大，可以用于测量复杂几何形状的各种样品。马达驱动可调节的Z轴允许放置*高可达140mm高度的样品。C型槽设计可以方便地测量诸如印刷线路板等大平面样品。测量系统配有快速可编程的XY平台，因而可以方便地按照预定程序扫描检查样品表面 产品型号： 所在地：上海市 更新时间：2020-09-17 |
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