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详细介绍
JK-CH600190-XRD冷热台
JK-XRD原位冷热台是一种安装在X-射线衍射仪上研究样品变温X-射线衍射的附件。产品采用液氮致冷、电阻加热的方式，提供-190~600℃（选型）或RT~1000℃（选型）温度范围内的气氛/真空测试环境。适合于粉末、片材样品在变温下进行X-射线结构研究，适配现有各种X-射线衍射仪（布鲁克、赛默飞、理学等）。
产品需要与温度控制器、致冷控制器（选配）配套使用，配套的上位机温控软件方便进行温度设置及采集，提供的Labview Vis方便客户进行定制化编程。
产品特点：
温度范围-190~600℃（选型）/RT~1000℃（选型）
温度稳定性±0.1℃（＜600℃）±1℃（＞600℃）
衍射角0～164°
X射线视窗Kapton膜
支持反射/透射模式
密腔室设计，可升级真空腔室（10^(-3) mBar）
可更换上盖，作为普通冷热台使用
可调节高度，满足不同厚度样品测试更换上盖，可用作光学冷热台，实现一机多用
详细参数一览表：
XRD原位冷热台 | JK-CH600190XV | JK-H1200XV | |
温控模块 | 冷热方式 | 液氮致冷，电阻加热 | 电阻加热 |
温控范围 | -190～600℃ * | RT～1200℃ * | |
温度稳定性 | ±0.1℃（＜600℃），±1℃（＞600℃）* | ||
温度分辨率 | 0.1℃ | ||
升降温速率 | 0~30℃/min（可定点 / 程序段控温） | ||
温控方式 | PID | ||
温度传感器 | PT100 | 热电偶 | |
光学特性 | 光路 | 反射 * | |
X射线透射膜 | Kapton膜 | ||
结构特性 | 样品台尺寸 | 23×23mm * | 12x12mm * |
样品台材质 | 银质 * | 陶瓷 * | |
外形尺寸 | 100×100×73mm * | ||
腔室 | 真空 | ||
外壳冷却 | 循环水 | ||
基本配置 | XRD原位冷热台x1、温度控制器x1、致冷控制器x1（低温配置）、液氮罐x1（低温配置）、定制支架x1、温控软件x1、循环水系统x1、连接管路若干 | ||
选配 | 电脑主机/定制温控软件/定制光学盖板 | ||
备注 | 以上均为默认参数 * 为可定制项 | ||
其他可选型号 | CH400-100-X（-100~400℃） | ||
产品应用：
搭配理学X射线衍射仪 ↓
搭配赛默飞X射线衍射仪 ↓
搭配布鲁克X射线衍射仪 ↓
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