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桌上型主动式减震台 详细摘要: 桌上型主动式减震台*空间6自由度主动减振-拥有全频段的抗振动效果,同时没有共振*LCD-加速度时间波形显示/加速度频谱显示*洁净室兼容设计-封闭式铝制机身与台面...
产品型号:MINI系列 所在地:上海 更新时间:2023-09-14 参考价: 面议 在线留言 -
主动式减震系统 详细摘要: 主动式减震系统*空间6自由度主动减振-拥有全频段的抗振动效果,同时没有共振*LCD-加速度时间波形显示/加速度频谱显示*洁净室兼容设计-封闭式铝制机身与台面,避...
产品型号:MINI系列 所在地:上海 更新时间:2023-09-14 参考价: 面议 在线留言 -
Filmetrics薄膜厚度测量仪 详细摘要: Filmetrics薄膜厚度测量仪:F3-sX系列膜厚测量仪利用光谱反射原理,可以测试众多半导体及电解层的厚度,可测大厚度达3毫米。此类厚膜,相较于较薄膜层表面...
产品型号:F3-sX系列 所在地:上海 更新时间:2023-08-25 参考价: 面议 在线留言 -
Filmetircs 光学膜厚测量仪 详细摘要: Filmetircs 光学膜厚测量仪满足薄膜厚度范围15nm到3mm的厚度测试系统,如需了解更多 光学膜厚测量仪膜厚测试仪 F3-sX 信息,咨询。
产品型号:F3-sX 所在地:上海 更新时间:2023-08-25 参考价: 面议 在线留言 -
HORIBA 一键式全自动快速椭偏仪 详细摘要: HORIBA 一键式全自动快速椭偏仪是新型的全自动薄膜测量分析工具。采用工业化设计,操作简单,可在几秒钟内完成全自动测量和分析,并输出分析报告。是用于快速薄膜测...
产品型号:Auto SE 所在地:上海 更新时间:2023-08-22 参考价: 面议 在线留言 -
薄膜厚度测量仪 详细摘要: 借助F54-XY-200薄膜厚度测量仪光谱反射系统,可以轻松地测量尺寸达200 x 200mm样品的薄膜厚度电动XY工作台自动移动到选定的测量点并提供厚度测量,...
产品型号:F54-XY-200 所在地:上海市 更新时间:2023-08-22 参考价: 面议 在线留言 -
薄膜厚度测量仪 详细摘要: 借助F54-XYT-300薄膜厚度测量仪的光谱反射系统,可以快速轻松地测量200 x 200mm样品的薄膜厚度电动XY工作台自动移动到选定的测量点并提供快速的厚...
产品型号:F54-XYT-300 所在地:上海市 更新时间:2023-08-22 参考价: 面议 在线留言 -
四探针电阻率测量仪 详细摘要: Filmetrics R54四探针电阻率测量仪是KLA薄膜电阻和导电率测绘系统,从半导体制造到实现可穿戴技术所需的柔性电子产品,薄膜电阻监控对于任何使用导电薄膜...
产品型号:R54 所在地:上海市 更新时间:2023-08-22 参考价: 面议 在线留言 -
四探针电阻率测量仪 详细摘要: Filmetrics R50四探针电阻率测量仪系列提供接触式四点探针(4PP)和非接触式涡流(EC)测量。
产品型号:R50 所在地:上海市 更新时间:2023-08-22 参考价: 面议 在线留言 -
Zeta-20台式光学轮廓仪 详细摘要: Zeta-20台式光学轮廓仪是一款紧凑牢固的全集成光学轮廓显微镜,可以提供3D量测和成像功能。该系统采用ZDot技术,可同时采集高分辨率3D数据和True Co...
产品型号: 所在地:上海 更新时间:2023-07-24 参考价: 面议 在线留言 -
FS-1单波长椭偏仪 详细摘要: Film See FS-1多波长椭偏仪采用寿命长 LED 光源和非移动 式部件椭偏探测器,可在操作简单的紧凑型椭偏仪中实现快速和可 靠地薄膜测量。大多数厚度 0...
产品型号:Film Sense FS-1 所在地:上海 更新时间:2023-07-24 参考价: 面议 在线留言 -
-Filmetrics膜厚测量仪 详细摘要: -Filmetrics膜厚测量仪-F54系列的产品能以一个电动R-Theta 平台自动移动到选定的测量点以每秒测绘两个点的速度快速的测绘薄膜厚度, 样品直径达4...
产品型号:F54 所在地:上海 更新时间:2023-07-24 参考价: 面议 在线留言 -
多波长椭偏仪 详细摘要: Film See FS-1™多波长椭偏仪采用寿命长 LED 光源和非移动 式部件椭偏探测器,可在操作简单的紧凑型椭偏仪中实现快速和可靠地薄膜测量。大...
产品型号:Film Sense FS-1 所在地:上海 更新时间:2023-07-24 参考价: 面议 在线留言 -
白光共聚焦 详细摘要: Zeta-20白光共聚焦是一款紧凑牢固的全集成光学轮廓显微镜,可以提供3D量测和成像功能。该系统采用ZDot™技术,可同时采集高分辨率3D数据和Tr...
产品型号:Zeta-20 所在地:上海 更新时间:2023-07-24 参考价: 面议 在线留言 -
白光共聚焦 详细摘要: Zeta-388白光共聚焦支持3D量测和成像功能,并提供整合隔离工作台和晶圆盒到晶圆盒的晶圆传送系统,可实现全自动测量。该系统采用ZDot™技术,可...
产品型号:Zeta-388 所在地:上海 更新时间:2023-07-24 参考价: 面议 在线留言 -
台阶仪 详细摘要: P-17台阶仪支持从几纳米到一毫米的台阶高度测量,适用于生产和研发环境。该系统可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量,其扫描可达200mm而无需...
产品型号:P-17 所在地:上海 更新时间:2023-07-24 参考价: 面议 在线留言 -
台阶仪 详细摘要: P-170台阶仪是cassette-to-cassette探针式轮廓仪,可提供几纳米至一毫米的台阶高度测量功能,适用于生产环境。该系统可以对台阶高度、粗糙度、翘...
产品型号:P-170 所在地:上海 更新时间:2023-07-24 参考价: 面议 在线留言 -
Nanosurf 真空环境用原子力显微镜AFM 详细摘要: Nanosurf 真空环境用原子力显微镜AFM产品主要特点:实时在您的真空环境中进行AFM分析方便集成在SEM中进行相关AFM分析兼容于大多数电镜而不影响SEM...
产品型号:AFSEM 所在地:上海 更新时间:2023-07-24 参考价: 面议 在线留言 -
Nanosurf AFM原子力显微镜 详细摘要: NanosurfAFM原子力显微镜产品主要特点:高起伏样品或多个样品自动纳米机械性能分析针对不同模型来测量粘弹性、硬度、黏附力与压入深度智能软件自主处理测量需求...
产品型号:Flex-ANA 所在地:上海 更新时间:2023-06-06 参考价: 面议 在线留言 -
HORIBA 研究级经典型椭偏仪 详细摘要: HORIBA 研究级经典型椭偏仪是一种无损无接触的光学测量技术,基于测量线偏振光经过薄膜样品反射后偏振状态发生的改变,通过模型拟合后得到薄膜、界面和表面粗糙层的...
产品型号:UVISEL Plus 所在地:上海 更新时间:2023-06-06 参考价: 面议 在线留言