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精确测量涂镀层厚度
在生产线上可作为手持式仪器，在质量控制实验室可作为台式仪器使用
● 多样化的探针和探针台设备可测量大多数不同尺寸和形状的样品
● 菜单控制、友好操作界面的软件和易于读数的背景光读数显示
● 可通过USB端口将样品数据传输至电脑
● 人体力学设计，使用舒适、方便、效率高
● 充电式镍电池，可连续测量使用20小时
● 充电底座可充当测量工作台
产品简介
详细介绍
产品介绍
世界上*款手持式β射线测量仪器
精确测量涂镀层厚度
在生产线上可作为手持式仪器，在质量控制实验室可作为台式仪器使用
● 多样化的探针和探针台设备可测量大多数不同尺寸和形状的样品
● 菜单控制、友好操作界面的软件和易于读数的背景光读数显示
● 可通过USB端口将样品数据传输至电脑
● 人体力学设计，使用舒适、方便、效率高
● 充电式镍电池，可连续测量使用20小时
● 充电底座可充当测量工作台
精确测量涂镀层厚度
在生产线上可作为手持式仪器，在质量控制实验室可作为台式仪器使用
● 多样化的探针和探针台设备可测量大多数不同尺寸和形状的样品
● 菜单控制、友好操作界面的软件和易于读数的背景光读数显示
● 可通过USB端口将样品数据传输至电脑
● 人体力学设计，使用舒适、方便、效率高
● 充电式镍电池，可连续测量使用20小时
● 充电底座可充当测量工作台
典型应用：
粘合剂/钢,铝,玻璃；铝/铁镍钴合金,钢,玻璃,硅；
氧化铝/镍合金；巴式合金/青铜,黄铜,铜,铁；
铜/铝,铍,碳,陶瓷,塑胶；铬/铜,铝；
镉/钢,黄铜,不锈钢；化学镍/铝,塑胶；
金/镍,铜,硅,陶瓷；氧化铁/聚酯薄膜；
铅/黄铜,青铜；滑润剂/钢,铝,黄铜,铜；
聚酯薄膜厚度；
镍/铝,铍；钯/镍；
光阻材料/铜；铂/镍；底漆/玻璃；
铑/镍,铜,金；银/铜,镍,陶瓷；
硅/塑胶；焊锡/铜,黄铜；
钽/玻璃；锡/铜,黄铜,钢；
锡镍合金/镍；氮化钛/钢,不锈钢；
MicroDermCMS规格参数:
尺寸：9.5″×5.0″×2.5″（250mm×125mm×62.5mm）
重量：1.5lbs. （0.65kg）
显示：2″×2.4″（50mm×60mm）背景光显示区域320×240像素；?VGA
存储：100 应用；20 校准；350,000 测量结果存储
统计：平均值，标准偏差，
zui大/小值，范围
输出：9针串口至USB
电池：可充电式4AA 2500mAh NiMH电池
HH-3型和HH-2型探针是zui通用的β射线探针，这些类型探针可以测量大多数不同尺寸和形状的微小样品，如圆柱体、薄片、挡风玻璃、电子元器件和微小面积样品。
SPG-1 Probe Guide
SPG-1用来定位HH-3探针在微小表面积上的测量，如电子元器件。
WF Probe Guide
WF是一款理想的工具应用于航空、汽车或其它需要测量大面积表面的工业（挡风玻璃、金属板、薄板等）
UMS Probe Stand
UMS探测台用于HH-3探针可精确控制测量位置，底台上附有固定设备。
BTF Probe
BTF β射线薄膜厚度测量探针可以测量极其稀薄的湿或干的涂层，如冲压滑润剂、底漆、扁平零件上的粘合剂等。
HH-4 Probe
HH-4探针主要用来测量样品内部便面的涂/镀层，如管形材料、轴承、环形物、圆柱形物体等。
PS 10-A Probe Table
PS-10A工作台用来进行精确、即时测量非常小的零部件和电子元器件，如连接器、接触头、插脚、接线端等。
粘合剂/钢,铝,玻璃；铝/铁镍钴合金,钢,玻璃,硅；
氧化铝/镍合金；巴式合金/青铜,黄铜,铜,铁；
铜/铝,铍,碳,陶瓷,塑胶；铬/铜,铝；
镉/钢,黄铜,不锈钢；化学镍/铝,塑胶；
金/镍,铜,硅,陶瓷；氧化铁/聚酯薄膜；
铅/黄铜,青铜；滑润剂/钢,铝,黄铜,铜；
聚酯薄膜厚度；
镍/铝,铍；钯/镍；
光阻材料/铜；铂/镍；底漆/玻璃；
铑/镍,铜,金；银/铜,镍,陶瓷；
硅/塑胶；焊锡/铜,黄铜；
钽/玻璃；锡/铜,黄铜,钢；
锡镍合金/镍；氮化钛/钢,不锈钢；
MicroDermCMS规格参数:
尺寸：9.5″×5.0″×2.5″（250mm×125mm×62.5mm）
重量：1.5lbs. （0.65kg）
显示：2″×2.4″（50mm×60mm）背景光显示区域320×240像素；?VGA
存储：100 应用；20 校准；350,000 测量结果存储
统计：平均值，标准偏差，
zui大/小值，范围
输出：9针串口至USB
电池：可充电式4AA 2500mAh NiMH电池
HH-3型和HH-2型探针是zui通用的β射线探针，这些类型探针可以测量大多数不同尺寸和形状的微小样品，如圆柱体、薄片、挡风玻璃、电子元器件和微小面积样品。
SPG-1 Probe Guide
SPG-1用来定位HH-3探针在微小表面积上的测量，如电子元器件。
WF Probe Guide
WF是一款理想的工具应用于航空、汽车或其它需要测量大面积表面的工业（挡风玻璃、金属板、薄板等）
UMS Probe Stand
UMS探测台用于HH-3探针可精确控制测量位置，底台上附有固定设备。
BTF Probe
BTF β射线薄膜厚度测量探针可以测量极其稀薄的湿或干的涂层，如冲压滑润剂、底漆、扁平零件上的粘合剂等。
HH-4 Probe
HH-4探针主要用来测量样品内部便面的涂/镀层，如管形材料、轴承、环形物、圆柱形物体等。
PS 10-A Probe Table
PS-10A工作台用来进行精确、即时测量非常小的零部件和电子元器件，如连接器、接触头、插脚、接线端等。
如需更详细资料或报价请资询：
86-755-82413890
李瑞躯
86-755-82413857
Mail: a@egl.hk
skli@eastco-hk.com
: mfyu2010
Web: www.eastco-hk。。ｃｏｍ