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产品简介
详细介绍
EXTECH CG204 测厚仪,CG204 涂层测厚仪,EXTECH一级代理 质量保证,*,: 苏
产品展示图如下所示：
EXTECH CG204 测厚仪,CG204 涂层测厚仪,EXTECH一级代理 特征：
基板自动识别
铁基体的磁感应
有色金属衬底涡流测量
易于使用的菜单系统
两种测量模式：单次和连续
两种工作模式：直接和组
存储400读数：80直接和320组
用户可编程的高/低报警
zui小/zui大/平均，一个或两个点校准
两节AAA电池，USB电缆，软件校准校准铁，铝，精度标准，和袋盒
规格:
传感器探头 铁磁性 非铁磁性
测量原理 磁感应 涡流原理
测量范围
镀膜厚度
0～1250μm
0～49.21mils
0～1250μm
0～49.21mils
精确度1
（读数的 %）
0～850μm:±(3% + 1μm)
850μm ～1250μm:(±5%)
0～33.46mils:±（3% +
0.039mils）
33.46mils ～49.21mils:
(±5%)
0～850μm:±(3% + 1.5μm)
850μm ～1250μm:(±5%)
0～33.46mils:±（3% +
0.059mils）
33.46mils ～49.21mils:
(±5%)
分辨率 0～50μm:（0.1μm）
50μm ～850μm:（1μm）
850μm ～1250μm:
（0.01μm）
0～1.968mils:（0.001mils）
1.968mils～33.46mil:s
（0.01mils）
33.46mils～49.21mils:
（0.1mils）
0～50μm:（0.1μm）
50μm ～850μm:（1μm）
850μm ～1250μm:
（0.01μm）
0～1.968mils:（0.001mils）
1.968mils～33.46mils:
（0.01mils）
33.46mils～49.21mils:
（0.1mils）
zui小曲率半径
基材
1.5mm（59.06”） 3mm（0.004”）
基材zui小区域的直径
7mm（275.6”） 5mm（196.9”）
基材的基本临界厚度
0.5mm（19.69”） 0.3mm（11.81）
工业标准 符合 GB/T 4956-1985、GB/T 4957-1985、JB/T 8393-1996、JJG
889-95 以及 JJG 818-93 的要求
工作温度 32°F~104°F (0°C~40°C)
相对工作湿度(R.H.)
20%~90% 相对湿度
尺寸 4.3 x 2.0 x 1.0”（110 x 50 x 23mm）
重量 3.9 oz.（100g）
精确度声明适用于经过归零及校准后接近待测薄膜厚度，以及使用相同的基底金属并且仪表在环境温度下较为稳定的平面上使用。应将基准薄膜或任何参照标准的精确度添加到测量结果中。
EXTECH CG204 两点校准
此方法需要使用两个薄膜。如有可能，较厚的薄膜的厚度应是较薄的薄膜的 1.5 倍。为了获得*校准结果，预期的厚度值应在两个校准值之间。
此方法特别适用于获得高精度读数。建议采用多次校准所得的平均值。这样会大幅减少在校准上限值和下限值时出现的分散的影响。
1. 进行零点校准（上述）
2. 启用选项编程菜单中的校准模式。
3. 对较薄的校准基准薄膜进行一点校准（上述）。
4. 使用较厚的校准薄膜（比如 997?m）重复步骤 3.
5. 关闭仪表可保存测量值。
EXTECH CG204 校准注意事项：
1. 校准薄膜的厚度应大致上等于待测镀膜厚度的估算值。
2. 可按需要进行多次校准。旧的校准数据会被覆盖，但零点校准数据会一直存储在内存中，直至进行另一次零点校准。
EXTECH CG204 喷砂表面的校准
喷砂表面的物理性质会产生比正常镀膜厚度读数高的值。超过峰值的平均厚度值可通过以下方法确定：
1. 应按校准说明对仪表进行校准。使用曲率半径相同且基质与待测设备相同的光滑的校准样品。
2. 对于无镀膜、表面喷砂的样品，用大约 10 个读数生成平均值 Xo.
3. 对于镀膜、表面喷砂的样品，在此基础上再增加 10 个读数生成平均值 Xm
4. 这两个平均值之差为超过峰值的镀膜厚度平均值 Xeff.此外，应考虑到对于两个值 Xm 和 Xo的较大的标准方差‘S’：Xeff = (Xm - Xo) ±S
注意：对于厚度超过 300µm 的镀膜，粗糙度的影响通常不太重要，因此，不必采用上述校准方法