CAMTEK 自动光学检验AOI设备 MEMS 返回列表页

CAMTEK  自动光学检验AOI设备 MEMS

Camtek检验和计量解决方案的微电子机械系统(MEMS)结合多种技术解决MEMS的2 d和3 d挑战的行业。

我们*的灵活平台支持MEMS产业广泛的应用程序。
各种处理配置和特殊的发展可以支持各种晶片大小和类型。

功能

•整片2 d检查和计量
•表面相关缺陷检查
•各种处理解决方案(薄和泰科晶圆和更多)
•高分辨率的2 d和3 d测量
•多个照明配置各种功能的检查
•灵活的检测环境定制的应用程序

技术

•先进的缺陷检测和计量处理引擎
•高分辨率三维共焦传感器
•剪辑

产品

头鹰

头鹰年代的2 d表面缺陷检验和计量系统,实现高容量生产前2 d检查解决方案和post-bumped晶片,探针标记检查,OQc等等。

EagleT-i

设计的速度和准确性,Camtek EagleT-i是一个最快的和的2 d检查工具在市场上。