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美国DataRay的导轨式光束质量分析仪

导轨式光束分析仪，测量光束质量因子M2，发散角

美国Dataray针对需要测量M2的客户提供了相机成像和狭缝扫描系统，除了可以用来测量M2，还可以测量发散角、光束轮廓、束腰直径等。

ISO 11146标准对于M2的测量要求在光束的瑞利长度范围内至少取15组数据以上，然后取其合理数值的平均值得出较为准确的M2值；在大多数情况下，这就需要导轨式光束质量分析仪在传播方向上多次移动取点。

为得到精确度较高的M2值，美国dataray推出的光束轮廓分析仪Beam R2狭缝系列和光斑分析仪WinCamD系列可以和M2DU系列导轨搭配使用，从而符合ISO 11146标准。

M2DU系列导轨特点：

- 分辨率小于1 μm

- 可以与dataray软件兼容

- 符合RoHS和CE标准

- 有50，200，500，1000 mm的长度

为什么要关注激光的光束质量因子——M2，很多外行的人都会有这样的一个问题。M2是激光或激光系统质量保证或者交付验收的一个标准，是导致实际聚焦光斑直径比预测计算的要大的原因，也是激光束通过光学系统传播一个不变的属性并且可以用来描述传播路径上任何点的光束。

实际的激光束并非按照理想实现，由于激光腔、激光介质和附属光学器件的限制意味着大多数的光束并不能达到标准的衍射极限、高斯剖面或纯TEM00模式。复杂的光束需要经过多种模式的传播，增加了M2值。即使是条件好的的实验室里的HeNe激光器的M2值也约为1.05到1.2，而不是标准的TEM00光束的1.0。

导轨式M2测量仪——WinCamD系列：

       - 灵敏的成像系统

       - 可以测量大范围的M2

       - 可以适用于脉冲光和连续光

       - 190-1600 nm的宽波段范围，11.3 x 11.3 mm的传感器尺寸，5.5 x 5.5 μm的像素尺寸

导轨式光束分析仪——Beam R2系列：          

       - 高分辨率（0.1 μm）单平面扫描系统

       - 可以测量大范围的M2

       - 可以测量连续光和重复频率大于（500 / Beam diameter in μm）KHz的脉冲光

       - 波长范围从190 nm到2500 nm

       - 搭配导轨M2DU系列可以测量M2和发散角等

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