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Dataray激光光束质量分析成像系统
WinCamD-QD-1550，应用于科研领域的激光光束质量分析成像系统
由维尔克斯光电代理的美国Dataray品牌，于今年推出全新的产品WinCamD-QD-1550和WinCamD-QD-2000高分辨率激光检测设备，应用于科研领域的小尺寸光束测量，设备运用量子点CMOS，单个像素尺寸高达15μm，可以实现最小150μm（0.15mm）光束直径的测量需求，波长范围覆盖400-1700nm，配置了一个全局快门，使得该设备同时可以应用于脉冲激光的检测。
由于信噪比超过2100:1，WinCamD-QD-1550和WinCamD-QD-2000能够进行符合ISO 11146标准的波束测量。胶体量子点传感器具有非常高的灵敏度(比传统CMOS传感器高4倍)，使得该设备非常适用于科研应用，补足了传统CMOS或CCD传感器对于小尺寸光束检测的空白。
S-WCD-QD-1550高分辨率激光检测设备使用的软件是DataRay专用软件，它功能齐全，高度定制化，以用户为中心设计。并且无需许可码，不限制安装，免费更新升级。同时该设备可以与Dataray生产的M2DU电动导轨共同使用，软件同时支持导轨和检测设备的运行，以及M2的测量需求。
对于更高功率的光源， DataRay还提供了一系列采样、吸收、反射衰减器，它们可以帮助您测量那些功率超过相机最大功率阈值的光斑。
Dataray光束质量分析成像系统特点：
- 量子点传感器，针对1550 nm进行了优化
- 覆盖400至1700 nm的波长
- 多个活动区域选项，最大1920 x 1080
- 15μm像素
- 14位ADC
- 全局快门 支持脉冲光束和连续光束
- > 2100：1动态范围
- 固件内NUC
- 在多台摄像机上并行捕获
- M²测量
- 带3 m螺钉锁定电缆的GigE或USB 3.0
- GigE Vision / USB3 Vision支持
高灵敏度光束质量分析系统的应用领域：
-1550nm激光轮廓的检测
-1550 nm激光器和基于激光器的系统的服务
-光学组件和仪器的对准
-光束漂移的检测
-使用可用的M2DU平台进行M²测量
激光光束质量分析成像系统参数表：
Dataray激光光束质量分析成像系统
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