半导体加速度离心实验机简述：

本设备用于确定电子元器件、小型设备和其他电工电子产品经受动态过载环境所产生的力（重力除外）作用下，结构的适应性和性能是否良好，以及评定一些元器件的结构完好性，并验证这些元件在预期的使用环境下经受复合加速度应力是否正常以及结构的承受能力。

半导体加速度离心实验机特点:

◆ 计算机实时控制，自动生成实验报告；

◆ 实时显示试验曲线及容差、试验时间；

◆ 可实现多阶加速度试验；

◆ 可实现开路、超限、超速保护；

◆ 可实现自动、手动控制；

◆ 集流滑环电流通道数及大小可满足任一实验要求。

离心试验机规格：