技术参数：

特点：

高像素密度探测器（六百万像素）使您能够在完整的3D环境中解析精细细节，即使在相对较大的成像体积内也是如此。 或者使用小样本几何放大倍率，以识别和表征衬度和清晰度的微米级结构。快速的样品安装和校准，流程化的的采集工作流程，快速曝光时间和数据重建以及可选的自动加载器系统使Xradia Context成为高通量成像的利器，可满足广泛的3D成像和表征需求。

Xradia Context建立在经过时间考验和备受推崇的Xradia技术之上，在系统稳定性、图像质量和可用性三方面被反复证实可靠。用户友好的Scout-and-Scan控制系统为您提供高效的工作流环境。使用Autoloader扩大已有系统，实现自动处理和多达14个样品的顺序扫描。还可以用来做4D研究以测量材料微观结构在不同条件下的变化。