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布鲁克三维光学轮廓仪ContourX-1000 参考价：面议
布鲁克三维光学轮廓仪ContourX-1000落 地 式 ContourX-1000 白 光 干 涉（WLI） 系 统 集 成 了Bruker 在 硬 件 和 ...
bruker布鲁克摩擦磨损试验机UMT TriboLab 参考价：面议
布鲁克通用机械测试仪 （UMT） 平台自 2000 年推出型号以来，一直是市场上功能全、使用广泛的摩擦仪。现在，新设计的bruker布鲁克摩擦磨损试验机UMT ...
bruker布鲁克三维光学轮廓仪ContourX-500 参考价：面议
bruker布鲁克三维光学轮廓仪ContourX-500是全面的快速，非接触式3D表面计量自动化台式系统。该系统集成了布鲁克专有的自动倾斜光学测头，可以*编程并...
bruker布鲁克三维光学轮廓仪ContourX-200 参考价：面议
bruker布鲁克三维光学轮廓仪ContourX-200融合了高级表征、可定制选项和易用性，可提供快速、准确和可重复的非接触式三维表面计量方法。该设备作为可用于...
Bruker隧穿磁比率测量仪 参考价：面议
布鲁克Bruker隧穿磁比率测量仪SmartProber TT具有平面内磁铁的低成本台式 CIPT 系统，适用于研究和开发这种低成本的台式设备配有手动 xy 定...
Bruker隧穿磁比率测量仪 参考价：面议
布鲁克Bruker隧穿磁比率测量仪SmartProber-P1——用于企业研发和故障分析中 300mm 晶圆应用的电动系统
Bruker椭偏仪FilmTek 2000 PAR-SE 参考价：面议
Bruker椭偏仪FilmTek 2000 PAR-SE——用于几乎所有先进薄膜或产品晶片测量的先进多模计量FilmTek™ 2000标准杆数-SE...
Bruker FilmTek CD椭偏仪 参考价：面议
Bruker FilmTek CD椭偏仪——多模态临界尺寸测量和先进薄膜计量学FilmTekTM CD光学临界尺寸系统是我们解决方案，可用于1x nm设计节点及...
Bruker 椭偏仪 FilmTek 2000M TSV 参考价：面议
Bruker 椭偏仪 FilmTek 2000M TSVFilmTek™ 2000M TSV计量系统为先进的半导体封装应用提供了速度和精度组合。该系...
Bruker椭偏仪 FilmTek 6000 PAR-SE 参考价：面议
Bruker椭偏仪 FilmTek 6000 PAR-SEFilmTek™ 6000标准杆数-SE先进的多模薄膜计量系统在1x nm设计节点和更高的...
Bruker 全自动原子力显微镜 InSight CAP 参考价：面议
Bruker 全自动原子力显微镜 InSightCAP——紧凑型高性能剖面仪和AFM
Bruker 全自动原子力显微镜 InSight AFP 参考价：面议
bruker 全自动原子力显微镜 InSight AFP——第五代AFP具有业界高的分辨率、快的成型速度和快速的3D模具映射
Bruker VERTEX 70v 傅立叶变换红外光谱仪 参考价：面议
Bruker VERTEX 70v 傅立叶变换红外光谱仪VERTEX70v为要求严格的分析和研究应用提供了超高性能。具创新意义的设计成就了该系列谱仪佳的灵活性和...
Bruker VERTEX 80/80v 傅立叶红外光谱仪 参考价：面议
bruker VERTEX 80/80v 傅立叶变换红外光谱仪VERTEX 80和VERTEX 80v真空FTIR光谱仪采用主动准直的 UltraScan&tr...
bruker布鲁克三维光学轮廓仪ContourX-100 参考价：面议
bruker布鲁克三维光学轮廓仪ContourX-100具备高性价比的 ContourX-100 光学轮廓仪为可重复的、非接触式表面测量树立了新基准。该系统占地...
SNL-10探针 bruker 原子力显微镜探针 参考价：面议
SNL-10探针 bruker 原子力显微镜探针悬臂规范材料:氮化硅几何:三角悬臂梁数量4悬臂厚度(Nom): 0.6pm悬臂厚度(RNG): 0.55 ~ 0...
SCANASYST-AIR bruker afm探针 氮化硅针尖 参考价：面议
SCANASYST-AIR bruker afm探针 氮化硅针尖ScanAsyst®利用一种的曲线采集方法和复杂的算法，对图像质量进行持续的监测，并能...
NCHV-A探针 bruker 原子力显微镜探针 参考价：面议
NCHV-A探针 bruker 原子力显微镜探针一组硅探针。数量为10用于TappingMode成像的Bruker's Value Li ne蚀刻硅探针TM在空...
bruker布鲁克纳米红外光谱nanoIR3 参考价：面议
bruker布鲁克纳米红外光谱nanoIR3，是一款基于原子力显微镜（AFM）的纳米表征工具。其采用光热诱导共振技术（PTIR，也称AFM-IR），使红外光谱的...
布鲁克bruker轮廓仪 参考价：面议
布鲁克bruker台阶仪轮廓仪Dektak XTL 探针式轮廓仪可容纳高达 350mm x 350mm 的样品，为大型晶圆和面板制造带来Dektak ®...
布鲁克纳米压痕Hysitron TI 980 参考价：面议
布鲁克纳米压痕Hysitron TI 980同时具有灵活性、可靠性、可用性和速度。这台行业系统以数十年的 Hysitron 技术创新为基础，在纳米力学特性测试方...
布鲁克BRUKER纳米压痕仪 参考价：面议
布鲁克BRUKER纳米压痕仪TS 77 Select精选是自动化台式纳米力学和纳米摩擦测试系统，可提供同类仪器的性能、多功能和易用性。这种新型测试系统以布鲁克的...
BRUKER原子力显微镜 参考价：面议
为满足AFM使用者对提高AFM使用效率的需求，Bruker开发了BRUKER原子力显微镜Dimension FastScan，不降低分辨力，不增加设备复杂性，不...
布鲁克扫描探针显微镜Dimension XR 参考价：面议
布鲁克扫描探针显微镜Dimension XR（SPM）系统攘括了原子力显微镜数十年来的研究和技术创新。通过常规的真原子相分辨率，以及一系列*的技术，包括峰值力轻...
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