手机电子冷热冲击试验箱 高低温冲击测试箱 返回列表页

   电子电工行业里，科文冷热冲击检测设备很多，科文十余年里的成长，是客户给予的，我们在不断给客户量身定做，不断设计的过程中，东莞市科文试验设备有限公司日渐成长。在此感谢所有客户的支持。

手机电子冷热冲击试验箱 、高低温冲击测试箱设备用途  

适用于电子、电工产品和其他设备在周围大气温度急剧变化条件下的适应性试验，也是筛选电子元器件初期故障的助手。  

设备特点
规格系列齐全 –提篮式、三厢式、水平移动三种冲击模式可供用户选择，充分满足不同用户的各种要求；
设备还可提供标准高低温试验功能，实现了温度冲击和高低温试验的共同兼容；
高强度、高可靠性的结构设计- 确保了设备的高可靠性；
工作室材料为SUS304不锈钢 - 抗腐蚀、冷热疲劳功能强，使用寿命长；
高密度聚氨酯发泡绝热材料- 确保将热量散失减到zui小；
表面喷塑处理- 保证设备的持久防腐功能和外观寿命；
高强度耐温硅橡胶密封条 – 确保了设备大门的高密封性；
多种可选功能（测试孔、记录仪、测试电缆等）保证了用户多种功能和测试的需要；
大面积电热防霜观察窗、内藏式照明 –可以提供良好的观察效果；
环保型制冷剂 –确保设备更加符合您的环境保护要求；

手机电子冷热冲击试验箱 、高低温冲击测试箱设备执行与满足标准    
1、GB/T2423.1-1989低温试验方法；     
2、GB/T2423.2-1989高温试验方法；     
3、GB/T2423.22-1989温度变化试验；     
4、GJB150.5-86温度冲击试验；     
5、GJB360.7-87温度冲击试验；     
6、GJB367.2-87 405温度冲击试验。     
7、SJ/T10187-91Y73系列温度变化试验箱——一箱式      
8、SJ/T10186-91Y73系列温度变化试验箱——二箱式      
9、满足标准IEC68-2-14_试验方法N_温度变化      
10、GB/T 2424.13-2002试验方法温度变化试验导则      
11、GB/T 2423.22-2002温度变化      
12、QC/T17-92汽车零部件耐候性试验一般规则    
13、EIA 364-32热冲击(温度循环)测试程序的电连接器和插座的环境影响评估 

手机电子冷热冲击试验箱 、高低温冲击测试箱型号：

KW-TS-480S内外尺寸： 工作室尺寸:800×8000×750 mm （W×H×D）

外箱尺寸:约1850×2250×1850 mm （W×H×D）

温度范围：试验区：--75℃～150℃（可任意设定）

 高温区：+60℃~+200℃

低温区：-10℃～-75℃

升降温速度：升温时间(蓄热区) ：RT～150℃约需35min

降温时间(蓄冷区) ：RT～-75℃约需65min

温度恢复时间/转换时间： ≤5min内 / ≤10sec内

控制精度：温度控制精度：±0.5℃;分布精度：±2.0℃

升温速率: 1.0℃ ～3.0℃ /min 

降温速率: 0.7℃ ～1.0℃ /min 

电源电压: AC380V±10％ 50±0.5Hz 三相五线制 

使用环境温湿度: RT:5℃ ～＋30℃ ≤85％R.H