CM90CM90:科研级.薄膜测厚仪,精度0.1um. 薄膜测厚仪,膜厚仪,膜厚测试仪,纸张测厚仪
【简单介绍】
1.可以检测,塑料薄膜,薄片,隔膜,纸张,箔片,硅片
2.精度可以达到0.1um.
3.实时显示测量结果的Z大值,Z小值,平均值以及标准偏差等数据.
4.数字显示,也可以加配电脑,做分析用.
5.可以自动进样,每隔一定距离自动采点.
【详细说明】
CM90 测厚仪采用机械接触式测量方式,严格符合标准要求,有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。
该设备满足多项国家和标准:ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672、GB/T 451.3、 GB/T 6547、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817
适用于薄膜、薄片、隔膜,纸张、纸板,箔片、硅片,金属片,纺织材料,固体电绝缘体,无纺布材料,如尿不湿、卫生巾片材等。
扩展应用(需特殊附件或改制)量程扩展至5mm,10mm,适用于测试薄膜、片材的厚度曲面测量头,满足特殊场合的厚度测试。
产品特点
·严格按照标准设计的接触面积和测量压力,同时支持各种非标定制
·测试过程中测量头自动升降,有效避免了人为因素造成的系统误差
·支持自动和手动两种测量模式,方便用户自由选择
·系统自动进样,进样步距、测量点数和进样速度等相关参数均可由用户自行设定
·实时显示测量结果的zui大值、zui小值、平均值以及标准偏差等分析数据,方便用户进行判断
·配置标准量块用于系统标定,保证测试的精度和数据*性
·系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能,方便快捷地获取测试结果
·系统由微电脑控制,搭配液晶显示器、菜单式界面和PVC操作面板,方便用户进行试验操作和数据查看
·标准的RS232接口,便于系统与电脑的外部连接和数据传输
·支持Lystem™实验室数据共享系统,统一管理试验结果和试验报告
技术参数
测试范围:0~2 mm(常规);0~6 mm;12 mm(可选)
分辨率:0.1μm
测量速度:10 次/min (可调)
测量压力:17.5±1 KPa(薄膜);50±1 KPa(纸张)
接触面积:50 mm2(薄膜);200 mm2(纸张)注:薄膜、纸张任选一种;非标可定制
进样步距:0~1000 mm
进样速度:0.1~99.9 mm/s
电源:AC 220V 50Hz
外形尺寸:461×334×357mm
净重:32 kg
标准配置:主机、标准量块一件
选购件:专业软件、通信电缆、测量头、配重砝码
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