涂层测厚仪AH220,上海涂层测厚仪AH220
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- 上海甘坛仪器有限公司
- 2016-08-10 19:48:53
- 上海市
- 831
【简单介绍】
【详细说明】
涂层测厚仪AH220,上海涂层测厚仪AH220
该仪器采用磁性测量方法，可无损地检测磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度（如钢、铁、合金和硬磁性钢上的铝、铬、铜、锌、锡、橡胶、油漆等）
技术参数：
| | AH 220 | |
| 测头类型 | F1 | |
| 工作原理 | 磁感应 | |
| 测量范围 | 0~1250μm | |
| 低限分辨率 | 0.1μm | |
| 示值误差 | 一点校准 | ±（3%H+1） |
| 二点校准 | ±[（1~3%）H+1] | |
| 测试条件 | zui小曲率半径mm | 凸1.5 |
| zui小面积直径mm | Φ7 | |
| 基本临界厚度mm | 0.5 | |
| 工作环境 | 温度 | 0~40℃ |
| 湿度 | 20%~90% | |
| 磁场 | 无强磁场环境 | |
| 电源 | AAA型碱性电池1.5V两节 | |
| 外形尺寸 | 115×70×30mm（主机） | |
| 重量 | 130g | |
| 选用探头的技术数据 | F400 | F1 | F1/90 | F10 | N400 | N1 | CN02 | |||||
| 测量原理 | 磁性 | 涡流 | | |||||||||
| 测量范围（μm） | 0～400 | 0～1250 | 0～10mm | 0～400 | 0～12500 | 10～200 | ||||||
| 测量精度μm | 一点校准 | ±[（1～3）%H+0.7] | ±（3%H+1） | ±（3%H+10） | ±（3%H+1） | ±（3%H+1.5） | ±（3%H+1） | |||||
| 二点校准 | ±（1～3％H+0.7） | ±[（1~3）%H+1] | ±[（1～3）%H+10] | ±[（1～3）%H+1] | ±[（1～3）%H+1.5] | --- | ||||||
| 低限分辨率 | 0.1 | 0.1 | 1 | 0.1 | 0.1 | 1 | ||||||
| zui小曲率半径（mm） | （凸）1 | 1.5 | 平直 | 10 | 1.5 | 3 | 仅为平面 | |||||
| zui小面积直径（mm） | ￠3 | ￠7 | ￠40 | ￠4 | ￠5 | ￠7 | ||||||
| 基本临界厚度（mm） | 0.2 | 0.5 | 2 | 0.3 | 0.3 | 无限制 | ||||||
测头选用参考表
| 覆盖层基体 | 有机材料等非磁性覆盖层（如：漆料、涂漆、珐琅、搪瓷、塑料和阳极化处理等） | 非磁性的有色金属覆盖层（如：铬、锌、铝、铜、锡、银等） | |||
| 覆盖层厚度不超过100μm | 覆盖层厚度超过100μm | 覆盖层厚度不超过100μm | 覆盖层厚度超过100μm | ||
| 如铁、钢等磁性金属 | 被测面积直径大于30mm | F400型测头0～400μm | F1型测头 | F400型测头0～400μm | F1型测头 |
| 被测面积直径小于30mm | F400型测头0～400μm | F400型测头0～400μm | F400型测头0～400μm | F400型测头0～400μm | |
| 如铜、铝、黄铜、锌、锡等有色金属 | 被测面积直径大于10mm | N1型测头0～1250μm | 仅用于铜上镀铬N1型测头0～40μm N400测头0～40μm | ||
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