涡流原理非磁性美国LEE L180测厚仪 返回列表页

                          美国LEE L180测厚仪(涡流技术)

测量原理：涡流法　

测量范围：1～1250μm

测量准确度：±[(1～3)%H+1] μm（全量程校准）

分辨率：1μm

L180 涂镀层测厚仪的详细介绍L180涂镀层测厚仪功能：
　　可进行零点校准及全量程校准。红宝石防磨探头。
　　可对探头进行基本校准。
　　具有自动关机功能。
　　操作过程有蜂鸣声提示。
　　有欠压指示功能。
　　有错误提示功能。L180涂镀层测厚仪指标：
　　测量原理：涡流法
　　测量范围：1～1250μm
　　测量准确度：±[(1～3)%H+1] μm（全量程校准）

分辨率：1μm工

件要求：zui小曲率半径（mm）凸5  /  凹 10 ；

接触zui小面积直径10(mm) ；

基体临街厚度（mm）  0.3

使用环境：温度 0-40摄氏度； 湿度  20%-75% ；  无磁场环境

电源：四节1.5伏AAA电池

外形尺寸：112 ×69×28mm

重量：82 g(不含电池)  

标准配置：

主机、标准校准片组、校准铁基体、使用指南、校准片检验报告、手提箱、挂绳及电池等