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详细摘要：介电常数介质损耗试验仪满足标准：GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法 产品型号：GDAT-A所在地：北京 参考价：面议
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详细摘要：6．Q表正常工作条件 a. 环境温度：0℃～+40℃； b．相对湿度：80％； c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。 7．其他 a．消耗功率：约25W； b．净重：约7kg； c.外型尺寸：（宽×高×深）mm：380×132×280。 产品型号：GDAT-A所在地：北京 参考价：面议
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详细摘要：介电常数介质损耗测试仪参数 Q 值测量范围 2 ～ 1023 固有误差 ≤ 5 ％ 工作误差 ≤7％ 电感测量范围 4.5nH ～ 140mH 电容直接测量范围 1 ～ 200pF 主电容调节范围 18 ～ 220pF 主电容调节准确度 1 ％ 信号源频率覆盖范围 100kHz ～ 160MHz 频率分段 （ 虚拟 ） 100 ～ 160MHz 产品型号：gdat-a所在地：北京 参考价：面议
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详细摘要：介电常数介质损耗测试仪主要技术特性 Q 值测量范围 2 ～ 1023 ， 量程分档： 30 、 100 、 300 、 1000 ，自动换档或手动换档 固有误差 ≤ 5 ％ ± 满度值的 2 ％（ 200kHz ～ 10MHz ）， ≤6％ ± 满度值的2％（10MHz～160MHz） 工作误差 ≤7％ ± 满度值的2％ （ 200kHz ～ 10MHz ）， ≤8％ ± 满度 产品型号：GDAT-A所在地：北京 参考价：面议
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详细摘要：gdat高频Q表的创新设计，无疑为高频元器件的阻抗测量提供了*的解决方案，它给从事高频电子设计的工程师、科研人员、高校实验室和电子制造业提供了更为方便的检测工具，测量值更为精确，测量效率更高。使用者能在仪器给出的任何频率、任意点调谐电容值下检测器件的品质，无须关注量程和换算单位。 产品型号：GDAT-A所在地：北京 参考价：面议
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详细摘要：介电常数介质损耗试验仪满足标准：GBT1409-2006 产品型号：GDAT-A所在地：北京 参考价：面议
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详细摘要：主要用于测量高压工业绝缘材料的介质损失角的正切值及电容量。其采用了西林电桥的经典线路。 主要可以测量电容器，互感器，变压器，各种电工油及各种固体绝缘材料在工频高压下的介质损耗( tg)和电容量( Cx)以，其测量线路采用“正接法"即测量对地绝缘的试品。 产品型号：BDAT-B所在地：北京海淀上地十街辉煌国际6号楼4层0426室 参考价：面议
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详细摘要：介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε)，可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。 产品型号：GDAT-A所在地：北京海淀上地十街辉煌国际6号楼4层0426 参考价：面议
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详细摘要：介电常数试验仪主要特点： 空洞共振腔适用于CCL/印刷线路板，薄膜等非破坏性低介电损耗材料量测。 印电路板主要由玻纤与环氧树脂组成的, 玻纤介电常数为5~6, 树脂大约是3, 由于树脂含量, 硬化程度, 溶剂残留等因素会造成介电特性的偏差, 传统测量方法样品制作不易, 尤其是薄膜样品( 小于 10 mil) 量测值偏低。 产品型号：GDAT-A所在地：北京海淀建材城西路50号 参考价：面议
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详细摘要：介电常数介质损耗是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε)，可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。 产品型号：GDAT-A所在地：北京市海淀区上地十街辉煌国际西6号楼4层0426 参考价：面议
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详细摘要：满足标准：GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的推荐方法 产品型号：所在地：北京市海淀区建材城西路 参考价：面议
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详细摘要：介电常数测试仪 产品型号：所在地：北京市海淀区建材城西路 参考价：面议
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详细摘要：空洞共振腔适用于CCL/印刷线路板，薄膜等非破坏性低介电损耗材料量测。 印电路板主要由玻纤与环氧树脂组成的, 玻纤介电常数为5~6, 树脂大约是3, 由于树脂含量, 硬化程度, 溶剂残留等因素会造成介电特性的偏差, 传统测量方法样品制作不易, 尤其是薄膜样品( 小于 10 mil) 量测值偏低,。 产品型号：所在地：北京市海淀区 参考价：面议
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详细摘要：主要用于测量高压工业绝缘材料的介质损失角的正切值及电容量。其采用了西林电桥的经典线路。 产品型号：所在地：北京市海淀区建材城西路 参考价：面议
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详细摘要：空洞共振腔适用于CCL/印刷线路板，薄膜等非破坏性低介电损耗材料量测。 印电路板主要由玻纤与环氧树脂组成的, 玻纤介电常数为5~6, 树脂大约是3, 由于树脂含量, 硬化程度, 溶剂残留等因素会造成介电特性的偏差, 传统测量方法样品制作不易, 尤其是薄膜样品( 小于 10 mil) 量测值偏低,。 产品型号：所在地：北京市海淀区建材城西路 参考价：面议
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详细摘要：空洞共振腔适用于CCL/印刷线路板，薄膜等非破坏性低介电损耗材料量测。 印电路板主要由玻纤与环氧树脂组成的, 玻纤介电常数为5~6, 树脂大约是3, 由于树脂含量, 硬化程度, 溶剂残留等因素会造成介电特性的偏差, 传统测量方法样品制作不易, 尤其是薄膜样品( 小于 10 mil) 量测值偏低,。 产品型号：所在地：北京市海淀区建材城西路50号 参考价：面议
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详细摘要：介电常数介质损耗测试仪专业供应商，如需请致电详谈。 产品型号：所在地：北京市海淀区 参考价：面议
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详细摘要：c类数显Q表工作频率范围是10kHz～60MHz,是一种多功能、多用途、多量程数字化阻抗测试仪器。它是根据串联谐振原理，以电压比值刻度Q值的。它能测量高频电感器的Q值，电感量和分布电容量；电容器的电容量和损耗角。配以夹具BH916介质损耗装置还能对固态绝缘材料的高频介质损耗（tanδ）和介电常数(ε)，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等进行测试。 产品型号：所在地：北京市海淀区 参考价：面议
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详细摘要：介电常数测试仪 产品型号：GDAT-A所在地：北京市海淀区 参考价：面议
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详细摘要：北京北广精仪仪器设备有限公司专业生产介电常数测试仪，： ， 产品型号：所在地：北京市海淀区 参考价：面议
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北京北广精仪仪器设备有限公司主营产品：绝缘强度耐电压击穿试验仪-高压电桥法介电常数测试仪-高电压击穿强度试验仪
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