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详细摘要：介电常数测试仪主要特点：空洞共振腔适用于CCL/印刷线路板，薄膜等非破坏性低介电损耗材料量测。 印电路板主要由玻纤与环氧树脂组成的, 玻纤介电常数为5~6, 树脂大约是3, 由于树脂含量, 硬化程度, 溶剂残留等因素会造成介电特性的偏差, 传统测量方法样品制作不易, 尤其是薄膜样品（ 小于 10 mil） 量测值偏低,。 产品型号：所在地：北京 参考价：面议
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详细摘要：介电常数相对电容率测试仪工作原理本测试装置是由二只测微电容器组成，平板电容器一般用来夹持被测样品，园筒电容器是一只分辨率高达0.0033pF的线性可变电容器，配用仪器作为指示仪器，绝缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放进平板电容器和不放进样品的Q值变化，由园筒电容器的刻度读值变化值而换算得到的。同时，由平板电容器的刻度读值变化而换算得到介电常数 产品型号：gdat-a所在地：北京 参考价：面议
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详细摘要：工频介电常数介质损耗测试仪 北广公司核心技术由北广公司严格组建 并有专业的仪器美工专注外观设计 从仪器的研发、生产、销售、售后等 *承建企业体系 。并且研发更的试验控制仪器 控制方式*升级 现研发的微机控制仪器、控制方式采用无线蓝牙*技术 并且可选用 232 / USB/亚太局域网络端口，已是全国* * 产品型号：GDAT-a所在地：北京 参考价：面议
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详细摘要：高频介电常数介质损耗因数正切值测试仪 产品型号：GDAT-A所在地：北京 参考价：面议
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详细摘要：绝缘材料介电常数介质损耗测试仪： ◎ 本公司创新的自动Q值保持技术，使测Q分辨率至0.1Q，使tanδ分辨率至0.00005 。 ◎ 能对固体绝缘材料在10kHz～120MHz介质损耗角（tanδ）和介电常数（ε）变化的测试。 ◎ 调谐回路残余电感值低至8nH，保证100MHz的（tanδ）和（ε）的误差较小。 ◎ 特制LCD屏菜单式显示多参数：Q值，测试频率，调谐状态等。 产品型号：GDAT-A所在地：北京 参考价：面议
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详细摘要：高频介电常数介质损耗因数测试仪能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。该仪器广泛地用于科研机关、学校、工厂等单位。 产品型号：GDAT-A所在地：北京 参考价：面议
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详细摘要：1．Q值测量 a．Q值测量范围：2～1023； b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档； c．标称误差 频率范围25kHz～10MHz100kHz～10MHz 固有误差≤5％±满度值的2%≤5％±满度值的2% 工作误差≤7％±满度值的2%≤7％±满度值的2% 频率范围10MHz～60MHz10MHz～160MHz 固 产品型号：GDAT-A所在地：北京 参考价：面议
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详细摘要：介电常数介质损耗测试仪装置： 2.3.1 平板电容器极片尺寸：:Φ38mm和Φ50mm二种. 2.3.2 平板电容器间距可调范围和分辨率：0～8mm， ±0.01mm 2.3.3 圆筒电容器线性： 0.33 pF /mm±0.05 pF, 2.3.4 圆筒电容器可调范围：±12.5mm（±4.2pF） 2.3.5 装置插头间距：25mm±0.1mm 2.3.6 装置损耗角正切值:≤2.5×10 产品型号：GDAT-A所在地：北京 参考价：面议
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详细摘要：材料高频介电常数测定仪 平板电容器极片尺寸：:Φ38mm和Φ50mm二种. 2.3.2 平板电容器间距可调范围和分辨率：0～8mm， ±0.01mm 2.3.3 圆筒电容器线性： 0.33 pF /mm±0.05 pF, 2.3.4 圆筒电容器可调范围：±12.5mm（±4.2pF） 2.3.5 装置插头间距：25mm±0.1mm 2.3.6 装置损耗角正切值:≤2.5×10-4 产品型号：GDAT-A所在地：北京 参考价：面议
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详细摘要：介电常数测试仪 产品型号：GDAT-A所在地：北京 参考价：面议
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详细摘要：介电常数测试仪/介质损耗因数和电容率测试仪的详细描述： 电： / 介电常数介质损耗试验仪满足标准：GBT1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的推荐方法 概述 A型高频Q表和C型高频Q表主要区别 AC 测试频率范围25kHz～60MHz100kHz～160MHz 产品型号：GDAT-A所在地：北京 参考价：面议
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详细摘要：固体材料介电常数介质损耗测试仪 产品型号：GDAT-A所在地：北京 参考价：面议
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详细摘要：材料介电常数测定仪 产品型号：GDAT-A所在地：北京 参考价：面议
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详细摘要：介电常数介质损耗测试仪主要技术指标： 2.1 tanδ和ε性能： 2.1.1 固体绝缘材料测试频率10kHz～120MHz的tanδ和ε变化的测试。 2.1.2 tanδ和ε测量范围： tanδ：0.1～0.00005，ε：1～50 2.1.3 tanδ和ε测量精度（1MHz）： tanδ：±5%±0.00005，ε：±2% 工作频率范围：50kHz～50MHz 四位数显，压控振荡器 Q值 产品型号：GDAT-A所在地：北京 参考价：面议
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详细摘要：介电常数介质损耗测试仪电感器： 按测试频率要求，需要配置不同量的电感器。 例如：在1MHz测试频率时，要配250µH电感器，在50MHz测试频率时，要配0.1µH电感器等。 高频介质样品（选购件）： 在现行高频介质材料检定系统中，检定部门为高频介质损耗测量仪提供的测量标准是高频标准介质样品。 该样品由人工蓝宝石，石英玻璃，氧化铝陶瓷，聚四氟乙烯，环氧板等材料做成Φ50mm，厚1～2mm测试样品。 产品型号：GDAT-A所在地：北京 参考价：面议
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详细摘要：仪器满足标准GB/T 1409-2006 测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的推荐方法。适用于测定热塑性、热固性塑料在1MHz条件下的电容率和介质损耗因数。 2.高频电容率和介质损耗因数测试系统构成 2.1.概述：高频电容率和介质损耗因数测试系统由S916测试装置（夹具）、GDAT型高频Q表、数据采集和tanδ自动测量控件（装入GDAT)、及LKI-1型电 产品型号：GDAT-A所在地：北京 参考价：面议
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详细摘要：五.注意事项： 1．测试装置使用结束后，请及时关闭液晶显示屏的电源，可延长电池的寿命。如果电池发出电压低报警，应及时更换电池保证测量的精度。电池更换位置位于液晶显示屏的被面十字盖冒下。用工具将十字盖冒逆时针旋转约45°，既可取下十字盖冒，更换电池。 2．本测试装置是由精密机械构件组成的测微设备，所以在使用和保存时要避免振动和碰撞，要求在不含腐蚀气体和干燥的环境中使用和保存，用户不能自行拆装，否 产品型号：GDAT-A所在地：北京 参考价：面议
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详细摘要：使用方法 高频Q表是多用途的阻抗测量仪器，为了提高测量精度，除了使Q表测试回路本身残余参量尽可能地小，使耦合回路的频响尽可能地好之外，还要掌握正确的测试方法和残余参数修正方法。 1．测试注意事项 a．本仪器应水平安放； b．如果你需要较精确地测量，请接通电源后，预热30分钟； c．调节主调电容或主调电容数码开关时，当接近谐振点时请缓调； d．被测件和测试电路接线柱间的接线应尽量短，足够粗，并应接 产品型号：GDAT-A所在地：北京 参考价：面议
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详细摘要：高频介质损耗测试系统由916测试装置（夹具）、GDAT型高频Q表、数据采集和tanδ自动测量控件（装入GDAT)、及LKI-1型电感器组成，它依据国标GB/T 1409-2006、美标ASTM D150以及电工委员会IEC60250的规定设计制作。系统提供了绝缘材料的高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)自动测量的Z佳解决方案。 产品型号：GDAT-A所在地：北京 参考价：面议
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详细摘要：能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。该仪器广泛地用于科研机关、学校、工厂等单位。 A/C高频Q表是北广精仪仪器设备有限公司Z 新研制的产品，它以DDS数字直接合成方式产生信号源，频率达 60MHz/160MHz，信号源具有信号失真小、频率精确、信号幅 产品型号：GDAT-A所在地：北京 参考价：面议
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北京北广精仪仪器设备有限公司主营产品：绝缘强度耐电压击穿试验仪-高压电桥法介电常数测试仪-高电压击穿强度试验仪
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