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低温介电参数测量系统

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更新时间:2016-01-29 07:14:01浏览次数:1020

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产品简介

低温介电参数测量系统可广泛应用于陶瓷材料、半导体器件及功能薄膜材料等研究。

详细介绍

低温介电参数测量系统

-180--室温,精0.1℃,升温速率:可选(典型值2/min
采用液氮或制冷机制冷
自主设计多功能样品杆和标准杆,校准更简单,拆卸更方便
自主设计热交换装置,加热和制冷极限温度更高
采用开放式设计,扩展功能更容易
真空辅助抽气置换系统,更便利的抽气置换操作

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