介电常数及介质损耗测试仪

　SBJDCS-C作为一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器，测试频率上限达到目前高的160MHz。 SBJDCS-C采用了多项技术：

1. 双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。
2. 双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。
3. 双数码化调谐 - 数码化频率调谐，数码化电容调谐。
4. 自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。
5. 全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。
6. DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真，频率的高精确、幅度的高稳定。
7. 计算机自动修正技术和测试回路*化 —使测试回路 残余电感减至zui低，** Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。

　　SBJDCS-C的创新设计，无疑为高频元器件的阻抗测量提供了*的解决方案，它给从事高频电子设计的工程师、科研人员、高校实验室和电子制造业提供了更为方便的检测工具，测量值更为精确，测量效率更高。使用者能在仪器给出的任何频率、任意点调谐电容值下检测器件的品质，无须关注量程和换算单位。