变温介电综合系统装置_介电常数及介质损耗测试仪-扬州市拓腾电气有限公司

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-160℃--200℃，精度0.1℃，可选(典型值2℃/min)；集成化设计，电极系统和测量单元集成于一体；触摸屏控制，操作更方便；
※特殊设计，缩短引线长度，提高测量精度；
※采用氮气通过液氮后循环制冷；
※可以测量块状和薄膜样品；

变温介电综合系统装置广泛应用陶瓷材料、半导体材料及功能薄膜材料的介电性能研究

特点：

※-160℃--200℃，精度0.1℃，可选（典型值2℃/min）；集成化设计，电极系统和测量单元集成于一体；触摸屏控制，操作更方便；

※特殊设计，缩短引线长度，提高测量精度；

※采用氮气通过液氮后循环制冷；

※可以测量块状和薄膜样品；

该系统配合介电测量分析软件，可实现高温、宽频条件下测量样品的变温谱（参数-T）偏压谱（C-V）阻抗谱（Z-f-T）、频率谱（参数-f）、时间谱（参数-）介电谱（ε-T-f）、COLE-COLE图等多种扫描曲线的测量。

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