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| 应用领域 | 能源,电子,交通,汽车,电气 |
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联讯eDH3101高温高湿老化系统
联讯仪器eDH3101是一体化高温高湿双85老化系统，一个针对第三代半导体芯片可靠性测试的完整的双温高湿双85 Turn-key解决方案。 联讯仪器eDH3101主要适用于GaAs和GaN射频器件和功率器件的高温高湿试验。该系统已经在激光器芯片行业和第三代半导体两大行业通过大量认证，是一个可靠稳定的系统。 联讯仪器eDH3101由双85箱体和一个测试机架通过内部背板无缝连接而成，测试架中集成了高稳定性多通道老化电源，UPS，电脑等。大液晶可触控屏幕加上友好可配置的界面给客户操作人员提供了非常简便的易用性。
联讯eDH3101高温高湿老化系统
系统特性 | 适用产品类型 | GaAs, GaN产品 |
使用产品封装 | Chip on Subount，DIP，TO | |
系统参能 | 216个芯片或者器件 | |
测试参数 | 监控Vds/Vce电压，Vgs/Vbe电压，Ids/Ice电流，并可以扫描曲线 | |
测试板 | 与测试系统共用老化测试板 | |
ID识别 | 支持产品位置与测试版SN绑定 | |
系统尺寸 | 1700(H)X800(W)X820(D) | |
系统功耗 | 4000W | |
技术指标 | 温度范围 | -20C ~ 150C |
温度分辨率 | 0.1C | |
温度波动性 | 0.5C (如按GB/T 5170.2-1996表示，则为+/-0.25C | |
温度偏差 | +/-1.5C | |
温度均匀性 | 1C (湿热实验，湿度>90%RH时) 1.5C (温度<100C时) 2C (其他条件) | |
升温时间 | -20C -> 150C <60mins | |
降温时间 | 20C -> -20C <45mins | |
湿度范围 | 25~98%RH (参考温湿度可控范围图，无有源湿、热负载)
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湿度分辨率 | 0.1% RH | |
相对湿度偏差 | +/-2% RH (湿度>75% RH时) +/-5% RH (湿度<=75% RH时) | |
Vds/Vce电压 | 1-200V,精度<+/-0.1%+20mV 1-100V,精度<+/-0.1%+10mV 0~15V,精度<+/-1%+5mV | |
Vgs/Vbe电压 | -20~+20V,精度<+/-0.1%+1mV -5~+5V,精度<+/-1%+0.4mV | |
Ids/Ice电流 | 0~4000mA，精度+/-0.1%+1mA 0~100mA，精度+/-1%+0.1mA | |
Igs/Ibe | 1uA~2mA,精度+/-1%+0.5uA | |
电流电压过冲 | 在任何情况下没有过冲 | |
电流电压振荡 | 在任何情况下没有振荡 | |
通用指标 | 操作系统 | Windows 10 |
软件功能 | 可配置软件平台，并支持客户二次开发 | |
软件语言 | C# 和 VS | |
数据库类型 | SQL | |
系统供电 | 100-380V, 50/60Hz |
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