美国博曼镀层膜厚仪 测厚仪

美国博曼镀层膜厚仪 测厚仪
美国Bowman 测厚仪 台式X射线荧光（XRF）镀层测厚仪——为您提供高精度、快速简便的镀层厚度测量、元素分析，以及电镀液分析。美国博曼（Bowman）分析仪器即使在客户遇到Z严格的测试要求时也能够实现快速、方便、高效的XRF分析效果。智能的紧凑式设计使得分析各种各样的应用变得更方便，在合理的价格范围内显著提升您的镀层产品质量控制。紧凑式设计，改善效率和精度。

美国博曼镀层膜厚仪 测厚仪

美国博曼（Bowman）BA-100 台式X射线荧光（XRF）镀层测厚仪——为您提供高精度、快速简便的镀层厚度测量、元素分析，以及电镀液分析。

美国博曼（Bowman）分析仪器即使在客户遇到zui严格的测试要求时也能够实现快速、方便、高效的XRF分析效果。

智能的紧凑式设计使得分析各种各样的应用变得更方便，在合理的价格范围内显著提升您的镀层产品质量控制。

性能与可操作性的*化

· 紧凑式设计，改善效率和精度

· 高分辨半导体固态探测器（Si-PIN），提高稳定性和灵敏度

· 更短的预热时间，更长寿命的光管

· 多种规格一次滤波器和准直器

· 可变焦距适应复杂样品的测量需求

· 模块化设计，方便维修、维护

简单的设计、强大的分析能力

· 快速、无损的分析

· 成份分析zui多可达25种元素

· 同时可zui多分析5层

· 基于基本参数法的镀层和成份分析方法

· 仅需一根USB线与电脑连接

· 快捷的面板控制按钮

· 占用空间小、轻量化设计

直观的用户界面

· zui大的分析灵活性，减少用户出错机会

· 基于Net framework框架的Xralizer软件

· 直观的图标引导用户界面

· 强大的定性、无标样分析功能

· 功能强大的标准片库

· 用于快速分析的可定制快捷键

· 灵活的数据显示与导出

· 强大的报告编辑

常见的镀层应用：

汽车
Cr/Ni/Cu/ABS
Zn/Fe

线路板
Au/ENi/CuPCB（ENIG）
Ag或Sn/CuPCB

引线框架和连接器
Au/Pd/Ni/Cu Alloys
Au/Ni/Ni/Fe

紧固件
ZnFe/Fe
ZnNi/Fe

切削工具
TiCN/WCo
TiAlN/WC

五金和管道固定装置
Ni/Cu
Cr/Ni/Cu/Zn

通讯和数据储存设备
NiP/Al

珠宝、贵金属
10,14,18Kt

元素分析、合金分类、杂质分析、溶液分析、电镀液分析等

美国博曼镀层膜厚仪 测厚仪