全角度光谱测量台

材料中的很多成份，以不同角度入射，得到的透射率和反射率会因入射角度变化而变化。通过测量不同角度入射，研究材料的zui敏感角度，为进一步研究或设计测量仪器提供依据。

RTM-VA全角度光谱测量台可以搭配光谱仪、光源及其他测量附件，可以对材料进行不同角度入射和接收的光谱测量，适用于各种表面平整的样品光谱测量。采用电控独立双轴设计，高精度步进电机控制发射端和接收端的角度，角分辨率达0.05°。光谱范围220-2500nm(可选择不同配置），电脑软件选择发射端和接收端的角度，实现快速的光谱测量，能够满足透射/反射/散射/荧光/辐射等多种模式的全角度光谱测量应用的需求。

入射端带有一个旋转偏振片架和一个滤波片架，可以放置一个偏振片和滤波片。接收端带有一个滤波片架，可以放置一个滤波片、偏振片或者波片。各种波长的范围的偏振片、滤波片和波片可供选择。

应用领域

• LED光源等
• 材料镀膜
• 光子晶体器件
• 液晶显示
• 传感器器件制备
• 角度材料相关分析
• 纳米光学材料

主要特点

• 全角度测量：发射端角度范围0°至180°，接收端角度范围0°至360°，可以实现反射、透射、散射、荧光和辐射的全角度光谱测量。
• 精确角度控制：高精度电机，角度精度及重复性能优异。
• 多光谱测量模式：可以实现上反射、下反射、透射、散射/荧光、辐射等多种光谱测量。
• 可编程测量模式：可以通过编程，来实现自动多角度光谱测量。
• 自由测量模式：可以任意控制样品台的入射角、接收角，实现光谱测量。
• 可选配件多样：根据客户的不同测量应用，可以选择不同的光源、滤光片、偏振片等配件完成不同的测量应用。
• 多维调节样品台：样品台由高精度三维位移台和二维倾斜台组成，可实现样品的五维正交调节。

光谱角度测量模式

反射测量（上反射/下反射）模式	透射测量模式
散射/荧光测量械	辐射测量模式

参数指标

可选配件