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10 秒之内即可完成 C/L 频带中的完整测量（无需等待多个平均值）
稳定性不受光纤移动/振动和漂移的影响
产品简介
详细介绍
keysight N7788B 光元器件分析仪描述
是德制定了使用 N7788B 元器件分析仪进行元器件测量的限制， 其专有技术可与*的琼斯矩阵本征法（JME）相媲美，琼斯矩阵本征法是测量光器件的偏振模色散（PMD）或差分群时延（DGD）的标准方法。
keysight N7788B 光元器件分析仪是德新的单次扫描技术具有一系列优点，可用于测试全套参数：
- DGD/ PMD
- PDL
- 功率/损耗
- TE/TM 损耗
- 二阶 PMD
- 主偏振态（PSP）
- 琼斯和米勒矩阵
用于生产车间的设计
高吞吐量： 在 10 秒钟内对 C 和 L 频带进行全面分析！
软件驱动程序： 为系统的外部控制提供一系列软件驱动程序。 这有助于通用 ERP 系统中的轻松集成。
远程控制： 支持通过 LAN 或互联网对仪器进行控制， 实现自动操作和故障诊断。
报告生成： 支持生成 PDF 格式的报告。 用户可以配置所有的内容（包括版图）。
实时功率读数： 提供实时功率读数（支持新器件的光纤耦合），可以对非连接的器件进行高吞吐量测量。
条形码扫描仪： 支持使用条形码扫描仪快速传输被测器件的序列号。
| N7788B-021 | Straight Laser Input Port |
| N7788B-022 | Angled Laser Input Port |
| N7788B-031 | Straight DUT Port |
| N7788B-032 | Angled DUT Port |
| N7788B-300 | Component Analyzer, 1270nm to 1375nm |
| N7788B-400 | Component Analyzer, 1270nm to 1375nm and 1460nm to 1620nm |
| N7788B-500 | Component Analyzer, 1460nm to 1620nm |
| 81000FI | Connector interface FC/PC/SPC |
| 81000HI | Connector interface E-2000 (physical contact) |
| 81000KI | Connector interface SC |
| 81000LI | LC Connector interface for source modules |
| 81000NI | Connector interface, connector type FC - narrow key way |
| 81000SI | Connector interface DIN 47256/4108 |
| 81000VI | Connector interface ST |