K系列 博曼BOWMAN高精度镀层测量仪K 系列是客户测量各种样品的理想之选，在高度不超过9英寸（228 mm）的工件上具有优于同类产品的12英寸（304 mm...

便携式超声探伤仪EPOCH 650EPOCH 650数字式超声探伤仪将奥林巴斯领xian行业的常规探伤性能及仪器小巧便携、操作直观的特点融合在一起。这款探伤仪具...

涡流探伤仪 OmniScan MX ECA/ECT涡流阵列技术（ECA）以电子方式驱动同一个探头中多个相邻的涡流感应线圈，并解读来自这些感应线圈的信号。通过使用...

奥林巴斯 超声探伤仪 EPOCH 1000EPOCH 1000系列数字式超声探伤仪将常规便携式探伤仪的高级性能和相控阵成像能力结合在一起。EPOCH 1000、...

相控阵扫查器RollerFORM XLRollerFORM XL 扫查器在设计和性能都已经过现场验证的初款 RollerFORM 扫查器的基础上研制而成，其集成...

奥林巴斯无损探伤仪OmniScan X3OmniScan X3探伤仪除了继承以往系列仪器可靠、便利、防水、防尘等优点外，在图像质量方面取得了长足的进步。针对形状...

EPOCH 6LS 便携式超声探伤仪EPOCH 6LS超声探伤仪机型简洁、轻盈便携、功能齐备，性能可靠。EPOCH 6LS探伤仪专门为ZG野外维护和维修市场而设...

奥林巴斯 测厚仪 Magna-Mike 8600Magna-Mike 8600是一款利用简单的磁法对非铁性材料进行可靠且重复性很高的厚度测量的便携式测厚仪。Ma...

便携式超声探伤仪EPOCH 6LT便于携带、使用方便的EPOCH 6LT探伤仪是一款符合人体工程学要求的坚固耐用的仪器，不仅可使操作人员得心应手地进行操作，还可...

布鲁克 X射线镀层测厚仪M1 ORA是适用于珠宝行业的台式X射线镀层测厚仪，结构紧凑、占用空间小。

镀层测厚仪M1M1 MISTRAL是采用X射线荧光技术的光谱仪，可对大件样品和镀层样品进行准确的分析。分析的元素范围：原子序数22号（钛）-92号（铀）中的元素...

大尺寸镀层测厚仪M2 BLIZZARD采用开槽设计，适用于扁平形状和尺寸过大的样品。

纳米力学测试系统TI 980一台优异纳米力学测试仪器所需的要求，实验上的灵活度与可实现性，测量稳定性，以及系统设计的模块化。

Hysitron 纳米力学测试系统可以采用TI Premier 的多种基本配置完成常规测量的研究，同时多样化的升级选项可以满足您未来表征的潜在多样性的需求。

布鲁克电荷灵敏前置放大器 CUBE布鲁克电荷灵敏前置放大器 CUBE（立方）是一种以脉冲复位模式运行的单片电荷灵敏式前置放大器，借助外部电阻器，也可以以连续复位...

DANTE数字脉冲处理器DANTE数字脉冲处理器伽马射线探测器信号，数字脉冲处理器，前置放大器芯片，X射线信号，前置放大器芯片，SDD探测器，同步辐射光源。

薄膜测厚仪MProbe系列反射光谱干涉法是一种非接触式、无损的、快速的光学薄膜厚度测量技术。

反射膜厚仪MProbe VisMProbe Vis薄膜测厚仪大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被测量。

反射膜厚仪MProbe UVVisSRMProbe UVVisSR薄膜测厚仪大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被测量。

反射膜厚仪MProbe RT该机大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被测量。