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• 利用库仑电量分析原理，测量镀层、多层镀层
• 符合标准：DIN EN ISO 2177
产品简介
详细介绍
- 可测实际应用的所有镀层
- 利用库仑电量分析原理，测量镀层、多层镀层
- 符合标准：DIN EN ISO 2177
| 库仑镀层测厚仪GALVANOTEST 可以测量 | GALVANOTEST2000 | GALVANOTEST3000 |
| 可以测量70种以上镀层/基体组合 | ● | ● |
| 可以测量平面、曲面上的镀层 | ● | ● |
| 可以测量小零件、导线、线状零件 | ● | ● |
| 预置10种金属的测量参数：Cr铬、Ni镍、Cu铜、黄铜、Zn锌、Ag银、Sn 锡、Pb铅、Cd镉、Au金（需提供样品确定） |
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| 预置9种金属的测量参数：Cr铬、Ni镍、Cu铜、黄铜、Zn锌、Ag银、Sn 锡、Pb铅、Cd镉。 | ● |
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| 用户可另设置8种金属的测量参数 |
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| 用户可另设置1种金属的测量参数 | ● |
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| 库仑镀层测厚仪测量机构： |
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| 带循环泵 |
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| 带气泵 | ● |
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| 库仑镀层测厚仪测量面积： |
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| 密封垫 8 mm2 | ● |
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| 密封垫 4 mm2 | ● | ● |
| 密封片 1 mm2 | ● | ● |
| 密封片 0.25 mm2（涂镀层面积几乎小得看不见） |
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| 电解杯 0.25-16 mm2 （可选件） | ● | ● |
| 库仑镀层测厚仪测量参数*化调整： |
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| 除镀速度0.3-40 μm/分钟可调 | ● | ● |
| 根据金属和测量表面可直接调整系数 | ● | ● |
| 可用厚度标准样板校准 | ● | ● |
| 可调整终点电压，以抗干扰，适应镀层/基体之间的合金 | ● | ● |
| GALVANOTEST的数据存储 |
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| 可存储不同金属测量参数的数目 | 10 | 18 |
| 可存储的读数和统计值 | 2000 | 2000 |
| 仪器断电后可保持所有校准值、读数、统计值。 | ● | ● |
| 库仑镀层测厚仪统计计算： |
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| 显示6种统计值：均值、标准偏差、变异系数、zui大、zui小值、读数个数 | ● | ● |
| 立即或稍后显示统计值 | ● | ● |
| 立即或稍后打印读数和统计值 |
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| 显示、打印年、月、日、时、分 | ● | ● |
| 用于外设的计算机接口： |
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| MINIPRINT 微型打印机接口 | ● | ● |
| RS-232，PC计算机接口 | ● | ● |
| 连接x-t计录仪模拟电压输出接口 | ● | ● |
| 电解液饱和报警指示 |
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| 测量的不确定性： |
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| 5%，在8mm2面积下，经校准 | ● | ● |
| 库仑镀层测厚仪电源： |
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| 110/220V，50/60HZ，10W | ● | ● |
| 测量范围： |
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| zui大测量范围：0.05-75μm | ● | ● |