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提供离散点测量和厚度轮廓测量 测头可自动升降。
丰富的扩展功能 可外接打印机，电脑和专业软件。 符合标准ASTM D 374，TAPPI T-411，BS 2782-6，Din 53370
产品简介
详细介绍
塑料薄膜和纸张测厚仪MX-1100技术参数 | |
| 可测样品 | 所有的薄膜和薄片材料 |
|---|---|
| 测量范围 | 0 - 50mil，0 - 100mil，0 - 200mil，0 - 300mil 或0 - 1270um，0 - 2540um，0 - 5080um，0 - 7620um 或0 - 1.3mm，0 - 2.5mm，0 - 5.0mm，0 - 7.5mm 或其他测量范围 当订购公制单位时，请um或mm显示 |
| 行程（探头缩回高度） | 对应的测量范围加1270um - 2540um 分辨率：0.01mil或0.1um或0.001mm，量程在0 - 200mil时； 0.1mil或1um或0.001mm，量程在0 - 300mil时。 |
| 精度 | +/-0.02mil或+/-0.5um或+/-0.0005mm |
| 平行度 | +/-1.0um或更好 |
| 测头尺寸 | 直径4.3mm（薄膜） 直径15.9mm（纸张） 或针对其他材料的其他尺寸 |
| 测头压力 | 4.0 - 8.0psi（0.562kg/cm²），薄膜 7.3psi（0.513kg/cm²），纸张 或针对其他材料的其他设置 |
| 循环速率 | 20/分钟（40/分钟，可选），薄膜 20/分钟（12/分钟，可选），纸张 或针对其他材料的其他设置 |
| 下落速率 | 1mm/sec，纸张 |
| 仪器尺寸（宽x长x高） | 25 x 25 x 28 cm |
| 标准配置 | 主机，标准厚度片，脚踏开关 |
| 选配件 | 打印机，质量控制软件（Quality Control Software） |
| 符合标准 | ASTM D 374，TAPPI T-411，BS 2782-6，Din 53370 |