WA-1150波长计光波长计提供zui高精度的波长测量，同步功率测量，专为在制造环境中表征WDM组件而设计。
这些系统采用Burleigh经过验证的扫描迈克尔逊干涉仪波长计技术，通过比较其干涉条纹图案与内置HeNe激光波长标准的干涉条纹图案来确定测试激光的波长。与其他波长计不同，所有可能影响波长测量的因素都考虑在内，以便使用WA-1150实现±1 ppm的zui高波长精度。
为了提供更完整的WDM组件分析，这些Wavemeter同时测量光输入信号的总功率。此外，漂移功能可根据时间自动监控波长或功率的任何变化。显示当前值及其与测量起始点的偏差，以提供测试激光的实时状态。还报告了大值和小值，以给出测量期间达到的极限。
在这些系统中已经结合了几种针对WDM组件制造商需求的设计考虑因素。通过内置的HeNe激光波长标准，系统的精度可以长时间保持，无需校准。测量周期时间短至0.1秒，提高了波长表征的效率。坚固耐用的台式或机架式封装可大限度地减少典型制造环境中的任何不利影响。
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