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产品简介
详细介绍
此仪器是用于鉴别和分析各种金属和合金的组织结构，可广泛地应用在工厂或实验室进行铸件质量的鉴定；原材料的检验或对材料处理后金相组织的研究分析，观察金属、硅片等反射标本的表面结构和芯片检查，也可观察具有一定反射率的透明标本的表面结构。
53X 正置金相显微镜 技术参数:
目镜：平场目镜 10X/Φ18 12.5X/Φ15；
10X平场分划目镜；
物镜：消色差物镜 4X 0.10 15.0；
10X 0.25 11.4；
半平场消色差40X 0.65 0.30；
三目镜筒：可选配摄影、摄像装置；
总放大倍数：40X-500X（斜筒系数1X）；
粗微动调焦：调节范围 15.5mm，微调焦格值 0.002mm；
玻璃工作台：120mm，大试样高度：约90mm。
| 型号 | 产品名称 | 规格 |
| 53X | 正置金相显微镜 | 正置式三目四个平场物镜100—1250倍落射光源 |