产地类别 | 国产 | 价格区间 | 10万-20万 |
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应用领域 | 化工,能源,电子,航天,电气 |
产品简介
详细介绍
冷热冲击试验箱用途
应用于国防工业、航空工业、高校院所、自动化零组件、汽车部件、电子电器仪表零组件、电工产品、塑胶、化工业、OLED、BGA封装、PCB基扳、IC封装、IC芯片、半导体元器件、制药工业及相关产品等设备在周围大气温度急剧变化条件下的适应性冲击测试,作温度快速变化或渐变条件下产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害,可确认产品的品质。
冷热冲击试验箱特点
1.外形美观、结构合理、工艺*、选材考究,具有简单便利的操作性能和可靠的设备性能。
2.试验箱分为高温箱、低温箱、测试箱三部分,采*之断热结构及蓄热蓄冷效果,试验时待 测物*静止,应用冷热风路切换方式将冷,热温度导入测试区实现冷热冲击测试目的。
3.采用*的计测装置,控制器采用大型彩色液晶人机触控对话式LCD人机接口控制器,操作简单、学习容易、稳定可靠,中/英文显示完整的系统操作状况、执行及设定程序曲线。
4.具96个试验规范独立设定,冲击时间999小时59分钟,循环周期1~999次可设定,可实现制冷机自动运转,大程度上实现自动化,减轻操作人员工作量,可在任意时间自动启动、停止工作运行。
5.箱体左侧具一直径50mm之测试孔,可供外加电源负载配线测试部件。
6.可独立设定高温、低温及冷热冲击三种不同条件之功能,并于执行冷热冲击条件时,可选择三槽式及冷冲、热冲进行冲击之功能,具备高低温试验机的功能。
7.具备全自动,高精密系统回路、任一机件动作,*有P.L.C锁定处理,全部采用P.I.D自动演算控制,温度控制精度高。
8.*科学的空气流通循环设计,使室内温度均匀,避免任何死角完备的安全保护装置,避免了任何可能发生安全隐患,保证设备的长期可靠性。
9.可设定循环次数及除霜次数自动(手动) 除霜。
10.出风口于回风口感知器检测控制,风门机构切换时间为5秒内完成,冷热冲击温度恢复时间为5分钟内完成。
11.运转中状态显示及曲线显示发生异常状况时,萤幕上即刻自动显示故障点及原因和提供排除故障的方法。
12.冷冻系统采用复迭高效低温回路系统设计,冷冻机组采用欧美*压缩机,并采用对臭氧系数为零的绿色环保(HFC)制冷剂R404A/R23。
冲击试验箱技术参数
1.温度冲击范围:-40℃~+150℃;-55℃~+150℃;-65℃~+150℃。(高温可定制:+250℃)
2.高低温区温度范围:
A.高温蓄能区:室温~+155℃。(定制性:室温~+215℃)
B.低温蓄能区:室温~-55℃;室温~-70℃;室温~-80℃。
3.测试区温度范围:
A.高温冲击温度范围:+50℃~+150℃。(定制型:+50℃~+200℃)
B.低温冲击温度范围:-10℃~-40℃;-10℃~-55℃;-10℃~-65℃。
C.温度波动度:±0.5℃。
D.温度均匀度:±2.0℃。
4.高低温测试区温度恢复和转换时间:≤5分钟。(可定制温变速率为:10℃/min;15℃/min;20℃/min;25℃/min,线性与非线性温变)
5.试验测试温度范围:-40℃~+85℃;-40℃~+120℃;-55℃~+125℃。(可根据试验要求选择温度范围)
6.试验测试方式:高低温冲击试验、冷热冲击试验、高低温恒定试验、高低温交变冲击试验。
7.试品重量:8 KG(可订制其他规格)。
8.使用电源:AC3∮5W 380V±10% ;50HZ。
9.重量约:480KG。
10.在无试验负荷、无层架情况下稳定20分钟后测定的性能。
11.温度均匀度定义为:实验机几何中心点处(计量单位空间9点测温法)。
12.设备制造标准:GB/T10586-2006,GB/T10592-1989。
13.设备检定标准:GB/T5170.2-1996,GB/T5170.5-1996。
14.设备的型号和规格选择如下:
型 号 内箱尺寸(mm) 外箱尺寸(mm)
ZK-TS -80L W500×H600×D500 W850×H1680×D1250
ZK-TS-120L W500×H750×D600 W850×H1880×D1350
ZK-TS-150L W500×H600×D500 W850×H1680×D1250
ZK-TS-225L W500×H750×D600 W850×H1880×D1350
ZK-TS-408L W600×H850×D800 W900×H1980×D1550
ZK-TS-800L W800×H1000×D1000 W1100×H2150×D1650
ZK-TS-1000L W1000×H1000×D1000 W1300×H2150×D1650
可按需求尺寸非标定制......
冲击试验箱执行与满足标准
1.GB10589-89 低温试验箱技术条件。
2.GB11158-89 高温试验箱技术条件。
3.GB10592-89 高低温试验箱技术条件。
4.GB2423.1 低温试验、试验A。
5.GB2423.2 高温试验、试验B。
6.GB2423.22 温度变化试验,试验N。
7.IEC68-2-14 试验N。
8.国军标GJB150.3-86。
9.国军标GJB150.4-86。
10.GB2423.1-89 电工电子产品基本试验规程试验A:低温试验方法。
11.GB2423.2-89 电工电子产品基本试验规程试验B:高温试验方法。