爆破粒子检测 微分干涉显微镜

爆破粒子检测 微分干涉显微镜

MX4R金相显微镜采用灵活的系统组合、的成像性能、稳定的系统结构，MX4R系列专业应用于工业检测及金相分析领域，各操作机构根据人机工程学设计，大限度减轻使用疲劳。模块化的部件设计，可对系统功能进行自由组合。集成了明场、斜照明、偏光、DIC微分干涉等多种观察功能，可根据实际应用，进行功能选择。全新采用半复消技术，集明场、斜照明、偏光等多种观察方式，任何观察模式下都能呈现清晰锐利的显微图像，可根据实际应用，进行功能选择，是工业检测的有效工具。

爆破粒子检测 微分干涉显微镜

一、产品展示

二、性能特点

1）MX4R系列为新型FPD检查显微镜，专为LCD行业 / TFT玻璃 / COG导电粒子压痕、粒子爆破检查

2）MX4R系列机型采用4寸、6寸平台设计，可适用于相应尺寸的晶圆或小尺寸样品的金相检查   

3）MX4R系列，其微分干涉效果可与进口品牌相媲美 

4）MX4R系列机型采用全新设计的长工作距物镜、半复消色差技术，采用长寿命LED光源

5）多种高度功能化的附件，能满足各种检验需要，可用于明场、简易偏光、微分干涉观察

■ 采用无限远色差校正光学系统
■ 长工作距、明暗场两用平场消色差物镜，成像清晰、像面平坦
■ 配备反射式柯拉照明系统，为不同倍率的物镜提供均匀充足的照明
■ 正像三通观察筒，30°倾斜，*的提高了观察的舒适性与操作的适应性
■ 配备了4寸带离合器的机械平台230X215mm，行程105mmX105mm，可快速移动
■ 良好的人机工程学设计，高刚性镜筒，“Y”型底座，调焦机构采用前置式操作控制
■ 光源采用宽电压数字调光技术，具有光强调定与复位功能
■ 可选配摄影摄像装置、简易偏光装置、干涉滤光片、测微尺等附件，拓展应用领域









★ 可选配6英寸三层机械移动平台，平台面积445×240mm，行程158×158mm；玻璃载物台板，透反两用平台；
★ 可选配标准微分干涉（DIC）装置、OLYMPUS微分干涉（DIC）装置

三、售后保障
    设备安装调试的同时，我公司的售后服务工程师负责对用户进行现场技术培训，直到用户能熟练操作为止。客户在使用仪器过程中，可随时向售后服务人员咨询有关技术问题，根据情况由我公司安排现场培训或远程指导。

自验收之日起，提供一年的全免费保修，保修期内所有维护费用及零配件费用全免（人为因素造成的仪器故障收取零配件成本价）； 保修期之后，设备终身负责维修，根据实际维修费用适当收费。接到客户维修需求后，我们将在24小时内做出响应。

正如众寻人的口号所说的，“众里寻他，无微不至”，众寻人一直在努力着，成为你在茫茫显微世界中寻找到的最合适的那个“他”。我们坚信客户的满意，才是我们成功的动力。致力成为中国专业的显微镜供应商，是众寻光学不断追求的目标，众寻人期待着与大家一起努力，振兴民族光学。