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产品简介
详细介绍
产品介绍：
消除背面反射光
采用特殊光学系，消除背面反射光。不必进行背面的防反射处理，可正确测定表面的反射率。
可测定微小领域的反射率
用对物镜对焦于被测面的微小区域（φ60μm），可测定镜片曲面及镀膜层脱落。
测定时间短
使用Flat Field Grating（平面光栅）和线传感器的高速分光测定，可迅速实现再现性很高的测定。
ＸＹ色度图、L*a*b*测定可能
以分光测定法为基准，从分光反射率情况可测定物体颜色。
Hard Coat（高强度镀膜）膜厚测定可能
用干涉光分光法，可以不接触、不破坏地测定被测物的膜厚（单层膜）。
主要用途
· 各种透镜（眼镜透镜、光读取头镜片等）
· 反射镜、棱镜以及其他镀膜部品等的分光反射率、膜厚测定（单层膜）
与原产品的主要区别
· 采用全新的ＵＳＰＭ－ＲＵⅢ框架及设计，提高了操作性能。
· 受台Ｚ方向的移动范围从35mm（原产品）扩大到了85mm。
· 电源规格可对应AC100V以及AC220V。 （请您在下订单时注明电源规格。）
· 优化了软件的功能。（可显示10次测定的功能等）
· XY受台移动方向增加了比例尺。
· 更换卤灯时不需调整灯的位置。
· ＰＣ与Interface采用了ＵＳＢ式连接。
产品规格
| 测定波长 | 380nm～780nm |
| 测定方法 | 与参照试料的比较测定 |
| 被测物N.A. | 0.12（使用10×对物镜时） 0.24（使用20×对物镜时） ※与对物镜的N.A不同 |
| 被测物W.D. | 10.1mm（使用10×对物镜时） 3.1mm（使用20×对物镜时） |
| 被测物的曲率半径 | -1R～-∞、+1R～∞ |
| 被测物的测定范围 | 约φ60μm（使用10×对物镜时） 约φ30μm（使用20×对物镜时） |
| 被测物再现性 | ±0.1%以下（2σ）（380nm～410nm测定时） ±0.01%以下（2σ）（410nm～700nm测定时） |
| 表示精度 | 1nm |
| 测定时间 | 数秒～十数秒（因取样时间各异） |
| 光源规格 | 卤灯 12V100W |
| 装置重量 | 本体：约20kg（电脑、打印机除外） 光源用电源：约3kg、控制器：约8kg |
| 装置尺寸 | 本体：300（W）×550（D）×570（H）mm 光源用电源：150（W）×250（D）×140（H）mm 控制器盒：220（W）×250（D）×140（H）mm |
| 电源规格 | 光源用电源：100V （2.8A）/220V AC 控制器盒：100V（0.2A）/220V AC |
| 使用环境 | 水平且无振动的场所 温度：23±5℃ 湿度：60％以下、无结露 |
| 软件 | ■测定参数设定 保存环境文档、可读取 ■分光反射率测定 设定参考值（固定值、分散式、可选择文档数据） 取样时间设定 判定是否合格 波长方向刻度 ■物体颜色测定 ＸＹ色度图、L*a*b*色度图 标准光源设定（A、B、C、D65） 视野设定（2°视野、10°视野） ■膜厚（单层膜）测定 镀膜材料折射率 |
| *作为特别订货，可对应测定波长为440nm～840nm。 |
· 如规格及外观发生变更恕不另行通知，敬请谅解。