半自动划片机/切片机（6英寸）-半导体材料 参考价：面议
半自动划片机/切片机（6英寸）-半导体材料适用于 6 英寸晶圆– 6 英寸硅晶圆– 紧凑尺寸的占地面积（宽 x 深 = 590 x 880）– 多处安装划片可划...
半自动划片机（8英寸，12英寸）-半导体材料 参考价：面议
半自动划片机（8英寸，12英寸）-半导体材料– 最大 16 英寸– 重复精度（Y 轴） ： 0.001– 可选 3 英寸刀片、BBD（刀片断裂检测仪）、NCS（...
半自动切片机（16英寸）-半导体材料 参考价：面议
半自动切片机（16英寸）-半导体材料– 最大 16 英寸 （300mm x 300mm）– 真空卡盘：300mm x 300mm 方形
全自动划片机/切片机（12英寸）-半导体材料 参考价：面议
全自动划片机/切片机（12英寸）-半导体材料– 最大 12 英寸硅晶圆– 真空吸盘：6~12英寸可切割材料：硅晶圆、QFN、陶瓷、印刷电路板、石英、LED、移动...
校准晶圆标准品-半导体表征 参考价：100000
校准晶圆标准品-半导体表征污染晶圆标准品、校准晶圆标准品和二氧化硅颗粒晶圆标准品使用颗粒沉积系统生产，该系统将首先使用差分迁移率分析仪（DMA）分析PSL尺寸峰...
表面光电压谱--半导体表征 参考价：面议
表面光电压谱--半导体表征表面光电压谱进行专业研究时，SPV010或者SPV020表面光电压谱系统作为开尔文探针系统的升级配件，匹配共同工作。150瓦直流可控光...
英国KP开尔文探针扫描-半导体表征 参考价：面议
英国KP开尔文探针扫描-半导体表征英国KP开尔文探针扫描是一种非接触无损震荡电容装置，用于测量导体材料的功函数（Work Function）或半导体、绝缘表面的...
界面力学分析仪-材料表征 参考价：面议
界面力学分析仪-材料表征界面力学分析仪可以用来直接测量表面（诸如：无机物，金属，氧化物，聚合物，玻璃，生物分子界面等）间静态力和动态力，并在分子级领域内研究界面...
飞行时间二次离子质谱-材料表征 参考价：面议
飞行时间二次离子质谱-材料表征飞行时间二次离子质谱是一种非常灵敏的表面分析技术。可以广泛应用于物理，化学，微电子，生物，制药，空间分析等工业和研究方面。TOF-...
大气环境光电子发射光谱-材料表征 参考价：面议
大气环境光电子发射光谱-材料表征1、大气环境下使用2、功能：光电子发射光谱+开尔文探针3、测试能级：费米能级，导带底能量，价带顶能量，HOMO-LUMO，禁带宽...
俄歇电子能谱及电子衍射分析系统-材料表征 参考价：面议
俄歇电子能谱及电子衍射分析系统-材料表征俄歇电子能谱及低能电子衍射分析系统电子枪：型号 ：带可调焦距和束斑直径的双静电透镜束流电压：0-3KV束流电流：大50u...
表面光电压谱系统-材料表征 参考价：面议
表面光电压谱系统-材料表征表面光电压谱系统150瓦直流可控光强的石英卤素灯可以达到开路电位来评估卷对卷硅太阳能电池的质量，全数字化控制所有参数，包括光照强度和波...
KP Technology扫描开尔文探针-材料表征 参考价：面议
KP Technology扫描开尔文探针-材料表征非破坏性振动电容装置,用于测试导电材料的功函或半导体材料表面的表面电势，表面功函。由材料表面顶部的1-3层原子...
超高真空开尔文探针-材料表征 参考价：面议
超高真空开尔文探针-材料表征开尔文探针是一种非接触、非破坏性振动电容装置用于导电材料的功函或半导体或绝缘体材料表面的表面电势，
气氛可控开尔文探针-材料表征 参考价：面议
气氛可控开尔文探针-材料表征气氛可控开尔文探针RHC020 气氛控制扫描开尔文探针是控制气氛检测样品的理想解决方案，50x50mm样品加热器可将样品温度升至10...
深能级瞬态谱仪-半导体表征 参考价：面议
深能级瞬态谱仪-半导体表征半导体领域研究和检测半导体杂质、缺陷深能级、界面态等的重要技术手段。根据半导体P-N 结、金－半接触结构肖特基结的瞬态电容（△C～t）...
单点开尔文探针-材料表征 参考价：面议
单点开尔文探针-材料表征开尔文探针是一种非常灵敏的表面分析技术。KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV业界高分辨率的测试系统。
皮可安培计-材料表征 参考价：面议
皮可安培计-材料表征技术参数：接口输入: BNC; 模拟输出: Banana jacks偏压选项：无偏压/ 内置偏压 （± 90 V DC）/ 外置偏...
飞行时间二次离子质谱2-材料表征 参考价：面议
飞行时间二次离子质谱2-材料表征飞行时间二次离子质谱是一种灵敏的表面分析技术，可以广泛应用于物理，化学，微电子，生物，制药，空间分析等工业和研究方面。TOF-S...
开尔文探针系统-半导体表征 参考价：面议
开尔文探针系统-半导体表征开尔文探针系统材料表面的功函数通常由上层的1-3层原子或分子决定，所以开尔文探针是一种较灵敏的表面分析技术。
皮可安培计（USB接口）-材料表征 参考价：面议
皮可安培计（USB接口）-材料表征技术参数：接口输入: BNC; 模拟输出偏压选项：无偏压/ 内置偏压 （± 90 V DC）/ 外置偏压 （BNC）
俄歇电子能谱仪（在线表面分析）-材料表征 参考价：面议
俄歇电子能谱仪（在线表面分析）-材料表征The microCMA is a compact （2.75“ CF mount） cylindrical mirro...
深能级瞬态谱仪2-半导体表征 参考价：面议
深能级瞬态谱仪2-半导体表征深能级瞬态谱仪是半导体领域研究和检测半导体杂质、缺陷深能级、界面态等的重要技术手段！测试功能：电容模式、定电容模式、电流模式、（双关...
开尔文探针扫描系统-半导体表征 参考价：面议
开尔文探针扫描系统-半导体表征开尔文探针扫描系统是一种非接触无损震荡电容装置，用于测量导体材料的功函数(Work Function)或半导体、绝缘表面的表面势(...
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