MAGNA-MIKE 8500霍尔效应壁厚测试仪
【简单介绍】
【详细说明】
霍尔效应壁厚测试仪Panametrics MAGNA-MIKE 8500也称为非磁性材料电磁测厚仪
霍尔效应壁厚测试仪Panametrics MAGNA-MIKE 8500技术参数:
zui小模式: 快速搜索并显示zui小厚度测量
可鉴度: 0.001或0.0001英寸(0.01或0.001mm)(可选)
显示: 液晶显示(LCD),灰底黑字,荧光背景灯,可调对照度,能同步显示现行数据,zui小读数,警报状况,数据归档信息
数据记录: 存储、恢复、清除并传送数据达95000个厚度读数,16种特殊数字鉴别代码及保存
数据输出: 连续的RS-232接口,波特速率、等同率、静止数都可电键选择
盘面报告: zui小值、zui大值、结构、平均数值、中间值,行列比较
校准刻度: 两种标准刻度指向8种参考指向
调差系统: 显示实际读数与预先设置参考数值的区别
警报系统: 程序警报设置系统设有视听指示
装置功率: 100/120/220/240VAC 48-62赫兹
电池: 可充电池,电池功率可持续工作8-16小时(在使用背景灯的情况下),充电时间2小时
度量/英国: 英寸或毫米,键台可选择
语言: 英语、法语、德语、西班牙语,键台可选
操作温度: 0o - +50℃(+32oF - +122oF)
尺寸: 9.375×5.45×1.5" (238×138×38mm)
品重: 2.1磅/5.3公斤
内附NIST标定证书
Panametrics MAGNA-MIKE 8500的重要特性:
zui小型号连续显示zui小厚度读数,手提便携式及份量轻(2.1磅),广阔的基础领域用于数据测定仪并有RS-232接口,有一些简单的操作方法有大量数字的背景灯LCD,Magna-Mike 8500型是对于不易测量其形状及大小的物体是非常理想的测量工具。无破坏性的测量能力,允许准确描述死角及沟、槽的厚度读数达到半径1/32"。同时显示表明厚度值以及zui小厚度的读数。Magna-Mike经过塑料包装工业标准的考核, 此外,还有许多其它已被证明的用途如:玻璃容器、合成物以及非铁物质。
的Magna- Mike的益处:快速测厚仪,达到每秒16次在难测的角落测试zui小厚度易于测量大物体的中心位置准确率达±1%,不受所测物体形状及属性影响内部数据记录储存达到95000个厚度读数与Magna-Mike 8000测厚仪的测试头*另配备客户支持与服务MAGNA-MIKE 8500型规格明细表测试球直径厚度范围(标准探头)校准刻度(准确度)1/16"(1.59mm) .0001-.0900"(.001-2.590mm) ±3%*1/8" (3.18mm) .0001-.1800"(.001-4.570mm) ±2%*3/16"(4.76mm) .0001-.2500"(.001-6.350mm) ±1%*准确率取决于厚度范围,详细规格说明参阅操作手册。扫描速率: 高达每秒16次测量(可选择)
Panametrics MAGNA-MIKE 8500标准配置
Magna-Mike 8500型Hall Effect厚度测量仪内部字母数据记录,包括:
标准探头(801PR)
探头支架(80PRS)
探头连接线(851PC)
用户手册(85MAN)
镍制可充电池(85BAT)
外部动力提供与充电器(8500型)
标球及校准刻度配套元件(80ACC-KIT), 包括标球设置(1/16英寸,1/8英寸,3/16英寸直径), 校准刻度标准:0.010英寸/0.25毫米, 0.04英寸/1毫米, 0.160英寸/4毫米(测量超过0.160英寸/4毫米,可选附件)
Panametrics MAGNA-MIKE 8500可选附件:
85STD 可调比对
8509F RS-232 I/O线缆, 9 pin 阴极
8525F RS-232 I/O线缆, 25pin阴极
80IP3 连接程序以获取DOS内数据
85FSW 脚踏开关- 2 pin Lemo连接
80CAL-020 0.020英寸(0.5毫米)校对刻度标准
80CAL-080 0.080英寸(2毫米)校对刻度标准
80CAL-240 0.240英寸(6毫米)校对刻度标准, 应用于超过0.160英寸(4毫米) 厚度
80CAL-NIS NIST校对刻度标准(元组装置)
85BAT 可充电池
851PC 额外探测线缆(用于801PR)
851CC 线圈12英尺(4米)探测器线缆(用于801PR)
802PR 第二个任务按钮(为大型测试样品)
802PR-109 探头,扩展能力范围400英寸(10毫米)
852CC 线圈12英尺(4米)探头缆线(为802PR系列)
852PC 直线3英尺(1米)探头缆线(为802PR系列)
85PRT 热感印刷装置缆线与纸(80PP)
80FXV 探测头V形装刻
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