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产品展示
XULM XULM-XYmX射线荧光镀层测厚仪
【简单介绍】
【详细说明】
X射线荧光镀层测厚仪FISCHERSCOPE® X-RAY XULM® 和FISCHERSCOPE® X-RAY XULM® XYm X射线光谱仪，用于细小零部件上镀层厚度的无损测量和成分分析
X射线荧光镀层测厚仪X-RAY XULM系列简介
为了使每次测量都能在*的条件下进行，XULM配备了可电动调整的多种准直器及基本滤片。
比例接收器能实现高计数率，这样就可以进行高精度测量。由于采用了Fischer基本参数法，无论是镀层系统还是固体和液体样品，都能在没有标准片的情况下进行准确分析和测量。可测量的元素范围从氯（17）到铀（92）。
XULM型X射线光谱仪有着良好的长期稳定性，这样就不需要经常校准仪器。
本款仪器特别适合用于客户进行质量控制、进料检验和生产流程监控。
典型的应用领域有：
微小零部件、接插件和线材上镀层厚度的测量
印制线路板上手动测量
珠宝手表业中的镀层厚度测量及成分分析
X-RAY XULM系列设计理念
FISCHERSCOPE X-RAY XULM设计为界面友好、结构紧凑的台式测量仪器系列。根据使用用途，有以下两种不同版本型号，分别对应不同样品平台：
XULM：固定平面平台
XULM XYm：手动X/Y平台
高分辨的彩色摄像头配以强大的放大功能，可以定位测量位置。
尽管仪器本身结构紧凑，但是由于XULM光谱仪配备了宽敞的测量室，从而可以测量更大体积的样品。
外罩底部留下了空隙，可方便地测量超出测量室大小的大尺寸扁平样品，如大面积的印制线路板等。
通过强大且界面友好的WinFTM®软件，可以在电脑上便捷地完成整个测量过程，包括测量结果的数据分析和所有相关信息的显示等。
XULM型光谱仪是型式许可符合德国”Deutsche Röntgenverordnung-RöV“法令要求的，有完善防护措施的测量仪器。
X-RAY XULM系列通用规范
| 用途 | 能量色散X射线荧光光谱仪 （EDXRF） 用于测量镀层厚度和材料分析 |
| 可测量元素范围 | 从氯（17）到铀（92），如使用选配的WinFTM® BASIC，可zui多同时测量24种元素 |
| 设计理念 | 台式仪器，测量门向上开启 |
| 测量方向 | 由下往上 |
X-RAY XULM系列X射线源
| X射线靶材 | 带铍窗口的钨靶微聚焦射线管 |
| 高压 | 三种可调高压：30 kV，40 kV，50 kV |
| 孔径（准直器） | 4个可切换准直器： 标准型（523-440）：圆形Ø 0.1mm；Ø 0.2mm；矩形0.05 x 0.05mm；0.2 x 0.03mm 可选 （523-366）：圆形Ø 0.1mm；Ø 0.2mm；Ø 0.3 mm；矩形0.3 x 0.05 mm 可选 （524-061）：圆形Ø 0.1mm；Ø 0.2mm；矩形0.3 x 0.05 mm；0.05 x 0.05mm 可按要求定制其它规格 |
| 基本滤片 | 3种可切换的基本滤片（标准型：镍，无，铝） |
| 测量点大小 | 取决于测量距离和使用的准直器的大小，视频窗口中显示的就是实际的测量点尺寸，使用矩形0.05 x 0.05mm准直器，zui小的测量点面积约为Ø 0.1 mm。 |
| 测量距离，如样品为腔体时 | 使用保护的DCM（测量距离补偿法）功能： 测量距离为0 ~ 20 mm时，为已校准范围； 测量距离为20 ~ 27.5 mm，为非校准范围。 |
X射线探测器
| X射线接收器 | 比例接收器 |
| 二次滤波器 | 可选：钴滤波器或镍滤波器 |
X-RAY XULM系列样品定位
| 视频显微镜 | 高分辨 CCD彩色摄像头，可用来观察测量位置十字线刻度和测量点大小经过校准 测量区域的LED照明亮度可调节 |
| 放大倍数 | 38 x ~184x （光学变焦: 38x ~ 46x; 数字变焦: 1x, 2x, 3x, 4x） |
| 样品台 | XULM | XULM XYm |
| 设计 | 固定样品平台 | 手动XY平台 |
| X/Y方向zui大可移动范围 | - | 50 x 50 mm |
| 样品放置可用区域 | 250 x 280mm | |
| 样品zui大重量 | 2kg | |
| 样品zui高高度 | 240mm | |
| 电气参数 | |
| 电压，频率 | AC 115 V 或 AC 230 V 50 / 60 Hz |
| 功率 | zui大为 120 W （测量头重量，不包括计算机） |
| 保护等级 | IP40 |
| 仪器规格 | |
| 外部尺寸 | 宽x深x高[mm]：395 x 580 x 510 |
| 重量 | 约45 kg |
| 内部测量舱尺寸 | 宽x深x高[mm]：360 x 380 x 240 |
| 环境要求 | |
| 测量时温度 | 10°C – 40°C / 50°F – 104°F |
| 存储或运输时温度 | 0°C – 50°C / 32°F – 122°F |
| 空气相对湿度 | ≤ 95 %，无结露 |
| 计算系统 | |
| 计算机 | 带扩展卡的Windows®个人计算机系统 |
| 软件 | 标准配置：Fischer WinFTM® LIGHT |
| 可选配置：Fischer WinFTM® BASIC, PDM®, SUPER | |
| 执行标准 | |
| CE合格标准 | EN 61010 |
| X射线标准 | DIN ISO 3497和 ASTM B 568 |
| 型式许可 | 型式许可符合德国”Deutsche Röntgenverordnung-RöV“法令要求的，有完善防护措施的测量仪器。 |
如有特殊要求，可与Fischer磋商，定制特殊的XULM型号。
X射线荧光法是高效的材料分析工具。它广泛应用于镀层厚度测量，同时也适于进行元素分析。
可以对几乎任意尺寸和状态的工件进行分析。粉末和糊状材料可以和固体或液体一样进行分析。
可以对几乎任意尺寸和状态的工件进行分析。粉末和糊状材料可以和固体或液体一样进行分析。
FISCHERSCOPE® X-Ray XAN® 和XDAL系列是能量分散的高性能X射线荧光光谱仪，它可以对未知材料进行简单，快速而的分析。分析范围从铝（Al）到铀（U），即使含量很小也可以测量。
X-RAY XULM系列这些*的仪器之所以具有如此强大的性能，是因为它使用了带珀耳帖冷却的高光谱分辨率的半导体探测器和用于材料和多镀层分析的WinFTM® V6软件。
如果与应用工具箱Gold Assay组合在一起，这些仪器系列也是FISCHERSCOPE® GOLDLINE ASSAY的一部分--珠宝和贵金属领域快速、无损和测量金含量的理想设备。
X-RAY XULM系列这些*的仪器之所以具有如此强大的性能，是因为它使用了带珀耳帖冷却的高光谱分辨率的半导体探测器和用于材料和多镀层分析的WinFTM® V6软件。
如果与应用工具箱Gold Assay组合在一起，这些仪器系列也是FISCHERSCOPE® GOLDLINE ASSAY的一部分--珠宝和贵金属领域快速、无损和测量金含量的理想设备。
更多X-RAY XULM系列以及其他款型相关请。
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